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资料编号:309794
 
资料名称:TMS320LF2407PGEA
 
文件大小: 1511.12K
   
说明
 
介绍:
DSP CONTROLLERS
 
 


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 
sprs094i −april 1999 − 修订 九月 2003
1
邮递 办公室 盒 1443
houston, 德州 77251−1443
tms320lf2407, tms320lf2406, 和
tms320lf2402 是 正在 replaced 用
tms320lf2407a, tms320lf2406a, 和
tms320lf2402a, 各自. hence,
tms320lf2407, tms320lf2406, 和
tms320lf2402 是 不 推荐
为 新 设计 (不推荐新设计).
高-效能 静态的 cmos 技术
− 33-ns 操作指南 循环 时间 (30 mhz)
− 30-mips 效能
− 低-电源 3.3-v 设计
为基础 在 tms320c2xx dsp cpu 核心
− 代号-兼容 和 f243/f241/c242
− 操作指南 设置 和 单元 兼容
和 f240/c240
在-碎片 记忆
− 向上 至 32k words x 16 位 的 flash
可擦可编程只读存储器 (4 sectors)
− 向上 至 2.5k words x 16 位 的
数据/程序 内存
− 544 words 的 双-进入 内存
− 向上 至 2k words 的 单独的-进入 内存
激励 只读存储器
− sci/spi bootloader
二 事件-manager (ev) modules (eva 和
evb), 各自 包含:
− 二 16-位 一般-目的 计时器
− 第八 16-位脉冲波-宽度 调制
(pwm) 途径 这个 使能:
− 三-阶段 反相器 控制
− 中心- 或者 边缘-排成直线 的 pwm
途径
− emergency pwm 频道 关闭
和 外部 pdpintx
管脚
− 可编程序的 deadband (deadtime)
阻止 shoot-通过 faults
的 外部 events
− 在-碎片 位置 encoder 接口
电路系统
− 同步 相似物-至-数字的
转换
− 设计 为 交流 入门, bldc,
切换 reluctance, 和 stepper 发动机
控制
− 适用 为 多样的 发动机 和/或者
转换器 控制
外部 记忆 接口 (lf2407)
64k 程序, 64k 数据, 64k i/o
看门狗 (wd) 计时器 单元
10-位 相似物-至-数字的 转换器 (模数转换器)
− 8 或者 16 多路复用 输入 途径
− 500 ns 最小 转换 时间
triggered 用 二 事件 managers
控制 范围 网络 (能) 2.0b 单元
串行 communications 接口 (sci)
16-位 串行 附带的 接口 (spi)
单元
阶段-锁-循环 (pll)-为基础 时钟
一代
向上 至 40 individually 可编程序的,
多路复用 一般-目的 输入/输出
(gpio) 管脚
向上 至 five 外部 中断 (电源 驱动
保护, 重置, 和 二 maskable
中断)
电源 管理:
− 三 电源-向下 模式
− 能力 至 电源 向下 各自 附带的
Independently
real-时间 jtag-一致的 scan-为基础
emulation, ieee 标准 1149.1
(jtag)
开发 tools 包含:
− 德州 器械 (德州仪器) ansi c compiler,
Assembler/linker, 和 代号 composer
Studio
Debugger
− evaluation modules
− scan-为基础 自-emulation (xds510
)
− broad 第三-群 数字的 发动机 控制
支持
包装 选项
− 144-管脚 低-profile 四方形 flatpack
(lqfp) pge (lf2407)
− 100-管脚 lqfp pz (lf2406)
− 64-管脚 四方形 flatpack (qfp) pg (lf2402)
扩展 温度 选项 (一个 和 s)
− 一个: − 40
°
c 至 85
°
C
− s: − 40
°
c 至 125
°
C
版权
2002, 德州 器械 组成公司的
请 是 知道 那 一个 重要的 注意 涉及 avail能力, 标准 保用单, 和 使用 在 核心的 产品 的
德州 器械 半导体 产品 和 免责声明 附之 呈现 在 这 终止 的 这个 数据 薄板.
代号 composer studio 和 xds510 是 商标 的 德州 器械.
ieee 标准 1149.1−1990, ieee标准 测试-进入 端口
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