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FA1A4M
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集电级 电流 vs.
输入 电压
V
在
– 输入 电压 – v
I
C
– 集电级 电流 –   一个
1.41.21.00.60.4 0.8
1000
100
10
1.0
切换 时间 vs.
集电级 电流
100
I
C
– 集电级 电流 – 毫安
t – swiching 时间 –   s
1.0 2.0 5.0 10 20 50
5.0
2.0
1.0
0.5
0.2
0.1
0.05
电阻 vs.
包围的 温度
100
T
一个
– 包围的 温度 – ˚c
R
1
– 电阻 – k
Ω
–25 7550250
20
16
12
8
4
V
在
= 5 v
V
CC
= 5 v
pw = 2   s
职责 循环
≤
2 %
t
stg
t
f
t
在
V
CE
= 5.0 v
T
一个
= 75 ˚c
–25
˚C
25 ˚c
µ
µµ
涉及
文档 名字 文档 非.
nec 半导体 设备 可靠性/质量 控制 系统 tei-1202
质量 等级 在 nec 半导体 设备 iei-1209
半导体 设备 挂载 技术 手工的 iei-1207
手册 至 质量 assurance 为 半导体 设备 mei-1202
半导体 选择 手册 mf-1134

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FA1A4M 3 集电级电流 vs. 输入电压 V 在 – 输入电压 – v I C – 集电级电流 – 一个 1.41.21.00.60.4 0.8 1000 100 10 1.0 切换时间 vs. 集电级电流 100 I C – 集电级电流 – 毫安 t – swiching 时间 – s 1.0 2.0 5.0 10 20 50 5.0 2.0 1.0 0.5 0.2 0.1 0.05 电阻 vs. 包围的温度 100 T 一个 – 包围的温度 – ˚c R 1 – 电阻 – k Ω –25 7550250 20 16 12 8 4 V 在 = 5 v V CC = 5 v pw = 2 s 职责循环 ≤ 2 % t stg t f t 在 V CE = 5.0 v T 一个 = 75 ˚c –25 ˚C 25 ˚c µ µµ 涉及文档名字文档非. nec 半导体设备可靠性/质量控制系统 tei-1202 质量等级在 nec 半导体设备 iei-1209 半导体设备挂载技术手工的 iei-1207 手册至质量 assurance 为半导体设备 mei-1202 半导体选择手册 mf-1134

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