gm71c(s)17400c/cl
rev 0.1 / apr’ 01
在 delayed 写 或者 读-modify-写 循环, oe 必须 使不能运转 输出 缓存区 较早的至 应用
数据 至 这 设备. 之后 ras 是 重置, 如果tOEH>=tCWL, 这 i/o 管脚 将 仍然是 打开 电路 (高
阻抗); 如果tOEH<tCWL, invalid 数据 将 是 输出 在 各自 i/o.
这 16m dram 提供 一个 16-位 时间 节省 并行的 测试 模式.地址 ca0和 ca1为 这
4m x 4 是 don't 小心在 测试 模式. 测试 模式 是 设置 用 performing 一个 我们-和-cas-在之前-
ras (wcbr) 循环. 在 16-位 并行的 测试 模式, 数据 是 写 在 4 位 在 并行的 在 各自 i/o
(i/o1 至 i/o4) 和 读 输出 从 各自 i/o. 如果 4 位 的 各自 i/o 是 equal (all 1s 或者 0s),数据
输出 管脚 是 一个 高状态 在 测试 模式 读 循环, 然后 这 设备 有 passed. 如果 它们 是 不
equal, 数据 输出 管脚 是 一个 低 状态, 然后 这 设备 有 failed. refresh 在 测试 模式
运作 能 是 执行 用 正常的 读 循环 或者 用 wcbr refresh 循环. 至 得到 输出 的 测试
模式 和 enter 一个 正常的 运作 模式, 执行 也 一个 regular cas-在之前-ras refresh
循环 或者 ras-仅有的 refresh 循环.
在 一个 测试 模式 读 循环, 这 值 的tRAC,tAA,tCAC和tACP是 delayed 用 2ns至 5ns 为 这
指定 值. 这些 参数 应当 是 指定 在 测试 模式循环 用 adding 这 在之上
值 至 这 指定 值 在 这个 数据 薄板.
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