信号 描述
mc9328mx21 产品 预告(展), rev. 1.1
freescale 半导体 7
clocks 和 resets
EXTAL26M 结晶 输入 (26mhz), 或者 一个 16 mhz 至 32 mhz 振荡器 (或者 正方形的-波) 输入 当 内部的
振荡器 电路 是 shut 向下.
XTAL26M 振荡器 输出 至 外部 结晶
EXTAL32K 32 khz 结晶 输入
XTAL32K 振荡器 输出 至 32 khz 结晶
CLKO 时钟 输出 信号 选择 从 内部的 时钟 信号. 请 谈及 至 时钟 控制 为 内部的
时钟 选择.
ext_48m 这个 是 一个 特定的 工厂 测试 信号. 至 ensure 恰当的 运作, 连接 这个 信号 至 地面.
ext_266m 这个 是 一个 特定的 工厂 测试 信号. 至 ensure 恰当的 运作, 连接 这个 信号 至 地面.
重置_在 主控 reset—external 起作用的 低 施密特 触发 输入 信号. 当 这个 信号 变得 起作用的, 所有
modules (除了 这 重置 单元, sdramc 单元, 和 这 时钟 控制 单元) 是 reset.
重置_输出 重置 out—internal 起作用的 低 输出 信号从 这 看门狗 计时器 单元 和 是 asserted
从 这 下列的 来源: power-在 重置, 外部重置 (重置_在
), 和 看门狗 时间-输出.
POR 电源 在 reset—active 低 施密特 触发 输入 信号. 这 por信号 是 正常情况下 发生 用
一个 外部 rc 电路 设计 至 发现 一个 电源-向上 事件.
clkmode[1:0] 这些 是 特定的 工厂 测试 信号. 至 ensure 恰当的 运作, leave 这些 信号 作 非
connects.
osc26m_测试 这个 是 一个 特定的 工厂 测试 信号. 至 确保恰当的 运作, leave 这个 信号 作 一个 非 连接.
测试_wb[2:0] 这些 是 特定的 工厂 测试 信号. 不管怎样,这些 信号 是 也 多路复用 和 gpio
端口 e 作 好 作 alternate keypad 信号. 如果 不utilizing 这些 信号 为 gpio 符合实际 或者
为 它’s 其它 多路复用 functi在, 然后 配置 作 gpio 输入 和 拉 向上 使能, 和 leave 作
一个 非 连接.
测试_wb[4:3] 这些 是 特定的 工厂 测试 信号. 至 ensure 恰当的 运作, leave 这些 信号 作 非
connects.
WKGD 电池 指示信号 输入 使用 至 qualify 这 walk-向上 处理. 也 多路复用 和 tin.
JTAG
TRST 测试 重置 pin—external 起作用的 低 信号 使用 至asynchronously initialize 这 jtag 控制.
TDO 串行 输出 为 测试 说明 和数据. 改变 在 这 下落 边缘 的 tck.
TDI 串行 输入 为 测试 说明 和数据. 抽样 在 这 rising 边缘 的 tck.
TCK 测试 时钟 至 同步 测试 逻辑 和 内容rol 寄存器 进入 通过 这 jtag 端口.
TMS 测试 模式 选择 至 sequence the jtag 测试 控制’s 状态 机器. 抽样 在 这 rising
边缘 的 tck.
jtag_ctrl jtag 控制 选择signal—jtag_ctrl 是 抽样 在 这 rising 边缘 的 trst. 必须 是
牵引的 至 逻辑 高 为 恰当的 jtag 接口 至 debugger. 拉 jtag_crtl 低 是 为 内部的
测试 目的 仅有的.
RTCK jtag 返回 时钟 使用 至 增强 稳固 的jtag debug 接口 设备. 这个 信号 是
多路复用 和 owire, hence utilizing owire 将 render rtck unusable 和 恶行 对抗.
表格 2. i.mx21 信号 描述 (持续)
信号 名字 函数/注释
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