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便条:
1. 量过的 在 这 生产 测试 电路
2. 分发 数据 样本 大小 是 250 样本 带去 从 5 不同的 wafers. future wafers allocated
至 这个 产品 将 有 名义上的 值 anywhere 在 upper 和 更小的 限制
产品 consistency 分发 charts 在 3v, 0.5 ghz, r
偏差
=240
Ω
[1, 2]
图示 2. nf @ 0.5 ghz 3v 60 毫安.
usl=1.4, 名义上的=0.93.
nf (db)
频率
0.6 0.8 1.4
150
120
90
60
30
0
1 1.2
cpk=2.45
stdev=0.06
+3 标准
图示 3. 增益 @ 0.5 ghz 3v 60 毫安.
usl=23.4, 名义上的=20.4, usl=22.0.
增益 (db)
频率
19 20 24
150
120
90
60
30
0
2321 22
cpk=1.3
stdev=0.36
-3 标准
+3 标准
图示 4. oip3 @ 0.5 ghz 3v 60 毫安.
lsl=30, 名义上的=32.9.
oip3 (dbm)
频率
29 30 32 35
120
100
80
60
40
20
0
31 33 34
cpk=1.9
stdev=0.51
-3 标准
图示 5. id @ 3v.
lsl=47, 名义上的=77, usl=62.0.
id (毫安)
频率
47 52 62 77
120
100
80
60
40
20
0
57 67 72
cpk=2.39
stdev=2.09
-3 标准
+3 标准
图示 6. rbias vs. i
d
(3v 供应).
I
d
(毫安)
rbias (ohm)
09010 20 40 50 70 8030 60
2800
2600
2400
2200
2000
1800
1600
1400
1200
1000
800
600
400
200
0
图示 7. rbias vs. i
d
(5v 供应).
I
d
(毫安)
rbias (ohm)
09010 20 40 50 70 8030 60
5500
5000
4500
4000
3500
3000
2500
2000
1500
1000
500
0
线 供应
vbias 从
agilent 4142
直接 至
地面
直接 至
地面
62x
RF
输入
Blocking
Cap
偏差
rf 输出
62x
涉及
平面
偏差
Tee
Vdd 供应 从
agilent 4142
图示 1b. 一个 图解 表明 这 连接 至 这 dut 在 一个 s 和 噪音 参数 mea-
surement 使用 一个 automated tuner 系统.
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