飞利浦 半导体 产品 规格
74F1391-的-4 解码器/demultiplexer
二月 23, 1990
4
直流 电的 特性
(在 推荐 运行 自由-空气 温度 范围 除非 否则 指出.)
标识 参数 测试 情况
1
限制
UNITSYMBOL 参数 测试情况
1
最小值 典型值
2
最大值
单位
V
O
高 水平的 输出 电压
V
CC
= 最小值, v
IL
= 最大值
±
10%V
CC
2.5 V
V
OH
高-水平的 输出voltage
V
IH
= 最小值, i
OH
= 最大值
±
5%V
CC
2.7 3.4 V
V
O
低 水平的 输出 电压
V
CC
= 最小值, v
IL
= 最大值
±
10%V
CC
0.30 0.50 V
V
OL
低-水平的 输出voltage
V
IH
= 最小值, i
OL
= 最大值
±
5%V
CC
0.30 0.50 V
V
IK
输入 clamp 电压 V
CC
= 最小值, i
I
= i
IK
–0.73 –1.2 V
I
I
输入 电流 在 最大 输入 电压 V
CC
= 最大值, v
I
= 7.0v 100
µ
一个
I
IH
高-水平的 输入 电流 V
CC
= 最大值, v
I
= 2.7v 20
µ
一个
I
ILL
低-水平的 输入 电流 V
CC
= 最大值, v
I
= 0.5v –0.6 毫安
I
OS
短的-电路 输出 电流
3
V
CC
= 最大值 –60 –150 毫安
I
CC
供应 电流 (总的) V
CC
= 最大值 13 20 毫安
注释:
1. 为 情况 显示 作 最小值 或者 最大值, 使用 这 适合的 值 指定 下面 推荐 运行 情况 为 这 适用 类型.
2. 所有 典型 值 是 在 v
CC
= 5v, t
amb
= 25
°
c.
3. 不 更多 比 一个 输出 应当 是 短接 在 一个 时间. 为 测试 i
OS
, 这 使用 的 高-速 测试 apparatus 和/或者 样本-和-支撑
技巧 是 preferable 在 顺序 至 降低 内部的 加热 和 更多 准确地 反映 运算的 值. 否则, prolonged shorting
的 一个 高 输出 将 raise 这 碎片 温度 好 在之上 正常的 和 因此 导致 invalid readings 在 其它 参数 tests. 在 任何
sequence 的 参数 tests, i
OS
tests 应当 是 执行 last.
交流 电的 特性
限制
测试
V
CC
= +5.0v V
CC
= +5.0v
±
10%
标识 参数
测试
情况
T
amb
= +25
°
C T
amb
= 0
°
c 至 +70
°
C 单位
情况
C
L
= 50pf, r
L
= 500
Ω
C
L
= 50pf, r
L
= 500
Ω
最小值 典型值 最大值 最小值 最大值
t
PLH
t
PHL
传播 延迟
a0 ir a1 至 qna, qnb
波形 1, 2
3.5
4.0
5.3
6.1
7.0
8.0
3.0
4.0
8.0
9.0
ns
t
PLH
t
PHL
传播 延迟
En 至 qna, qnb
波形 2
3.5
3.0
5.4
4.7
7.0
6.5
3.5
3.0
8.0
7.5
ns
交流 波形
为 所有 波形, v
M
= 1.5v
V
M
V
M
V
M
V
M
Qn
一个
t
PHL
t
PLH
SF00133
波形 1. 传播 延迟 为 反相的 输出
V
M
V
M
V
M
V
M
Qn
一个, e
n
t
PHL
t
PLH
SF00134
波形 2. 传播 延迟 为 非-反相的 输出
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