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ADM9264
–8–
rev. 0
60
40
50
trip 要点 变化 – mv
0
–10
–20
–30
20
10
30
温度 –
°
C
1000 20406080
–20
图示 16. 变化 的 su4 低 trip 要点 和
温度
温度 –
°
C
308
302
296
0 10010
输入 阻抗 – k
Ω
20 30 40 50 60 70 80 90
306
304
300
298
图示 17. su1 输入 阻抗 vs. 温度
温度 –
°
C
132
126
120
0 10010
输入 阻抗 – k
Ω
20 30 40 50 60 70 80 90
130
128
124
122
图示 18. su2 输入 阻抗 vs. 温度
60
40
50
0
–10
–20
–30
20
10
30
温度 –
°
C
1000 20406080
–20
trip 要点 变化 – mv
图示 13. 变化 的 su3 高 trip 要点 和
温度
60
40
50
0
–10
–20
–30
20
10
30
温度 –
°
C
1000 20406080
–20
trip 要点 变化 – mv
图示 14. 变化 的 su3 低 trip 要点 和
温度
60
40
50
trip 要点 变化 – mv
0
–10
–20
–30
20
10
30
温度 –
°
C
1000 20406080
–20
图示 15. 变化 的 su4 高 trip 要点 和
温度

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ADM9264 –8– rev. 0 60 40 50 trip 要点变化 – mv 0 –10 –20 –30 20 10 30 温度 – ° C 1000 20406080 –20 图示 16. 变化的 su4 低 trip 要点和温度温度 – ° C 308 302 296 0 10010 输入阻抗 – k Ω 20 30 40 50 60 70 80 90 306 304 300 298 图示 17. su1 输入阻抗 vs. 温度温度 – ° C 132 126 120 0 10010 输入阻抗 – k Ω 20 30 40 50 60 70 80 90 130 128 124 122 图示 18. su2 输入阻抗 vs. 温度 60 40 50 0 –10 –20 –30 20 10 30 温度 – ° C 1000 20406080 –20 trip 要点变化 – mv 图示 13. 变化的 su3 高 trip 要点和温度 60 40 50 0 –10 –20 –30 20 10 30 温度 – ° C 1000 20406080 –20 trip 要点变化 – mv 图示 14. 变化的 su3 低 trip 要点和温度 60 40 50 trip 要点变化 – mv 0 –10 –20 –30 20 10 30 温度 – ° C 1000 20406080 –20 图示 15. 变化的 su4 高 trip 要点和温度

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