jan. 2000
mitsubishi <intelligent 电源 modules>
PM30CNJ060
flat-根基 类型
insulated 包装
预防措施 为 测试
1. 在之前 appling 任何 控制 供应 电压 (v
D
), 这 输入 信号 应当 是 低 水平的.
之后 这个, 各自 输入 信号 应当 是 设置 至 这 指定 在 和 止 水平的.
2. 当 performing “sc” tests, 这 转变-止 surge 电压 尖刺 在 这 相应的 保护 运作 应当 不 是
允许 至 上升 在之上 v
cc(surge)
比率 的 这 设备.
(这些 测试 应当 不 是 完毕 用 使用 一个 曲线 tracer 或者 它的 相等的.)
10%
90%
trr
Irr
trtd (在)
tc (在) tc (止)
td (止)
V
CIN
Ic
Vce
10%
90%
tf
ton= td (在) + tr toff= td (止) + tf
V
d (所有)
u,v,w, (n)
信号 输入
p, (u,v,w)
一个
脉冲波
V
CE
V
CIN
(15v)
V
d (所有)
u,v,w, (n)
信号 输入
p, (u,v,w)
V
CIN
V
CC
I
C
I
C
I
C
OC
SC
V
CIN
t
止 (oc)
t
止 (oc)
短的 在 电流 (sc)
在 电流 (oc)
常量 电流
常量 电流
u,v,w
N
V
CINN
V
CINP
V
D
V
D
P
Ic
Vcc
V
CINN
0V
0V
V
CINP
t
t
t
dead
t
dead
图. 5 oc 和 sc 测试 图. 6 OC 和SC 测试 波形
图. 7 dead 时间 度量 要点 例子
图. 3 切换 时间 测试 电路 和 波形
p, (u,v,w)
p, (u,v,w)
u,v,w, (n) u,v,w, (n)
vd (所有) vd (所有)
V
CIN
(0v)
V
CIN
(15v)
–IcIc
图. 1 v
ce(sat)
测试 图. 2 v
EC
测试
V
V
一个) 更小的 arm 切换
P
N
N
u,v,w
Vcc
Vcc
Ic
Ic
V
D
(所有)
P
u,v,w
V
D
(所有)
V
CIN
V
CIN
信号 输入
(upper arm)
信号 输入
(更小的 arm)
信号 输入
(upper arm)
信号 输入
(更小的 arm)
b) upper arm 切换
图. 4 i
CES
测试
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