三月. 2001
10%
90%
trr
Irr
trtd (在)
tc (在) tc (止)
td (止)
I
CIN
Vce
10%
90%
tf
ton= td (在) + tr toff= td (止) + tf
V
D
(所有)
u,v,w,(n)
p,(u,v,w)
一个
脉冲波
V
CC
I
CIN
I
CIN
V
D
(所有)
u,v,w,(n)
p,(u,v,w)
V
CC
I
C
I
C
I
C
OC
SC
I
CIN
toff (oc)
toff (oc)
u,v,w
Snubber
N
I
CINN
I
CINP
V
D
V
D
P
I
C
V
CC
I
CINN
0A
0A
I
CINP
t
t
t
dead
t
dead
t
dead
p, (u,v,w,b)
u,v,w, (n)
u,v,w,(n)
V
D
(所有)
V
D
(所有)
I
CIN
Ic
V
V
p,(u,v,w)
所有 打开
P
N
N
u,v,w
V
CC
V
CC
I
C
I
C
I
C
V
D
(所有)
V
D
(所有)
P
u,v,w
I
CIN
I
CIN
短的 电路
在 电流
常量 电流
常量 电流
图. 5 oc 和 sc 测试
图. 6 oc 和 sc 测试 波形
图. 7 dead 时间 度量 要点 例子
图. 3 切换 时间 测试 电路 和 波形
图.1 v
ce(sat)
测试
图.2 v
EC
测试
一个) 更小的 arm 切换
信号 输入
(upper arm)
信号 输入
(更小的 arm)
信号 输入
(upper arm)
信号 输入
(更小的 arm)
b) upper arm 切换
图.4 i
CES
测试
信号 输入
信号 输入
–
Ic
预防措施 为 测试
1. 在之前 appling 任何 控制 供应 电压 (v
D
), 这 输入 信号 应当 是 转变 在 从 它的 止 状态.
之后 这个, 这 指定 在 和 止 水平的 设置 为 各自 输入 信号 应当 是 完毕.
2. 当 performing
“
OC
”
和
“
SC
”
tests, 这 转变-止 surge 电压 尖刺 在 这 相应的 保护 运作 应当 不
是 允许 至 上升 在之上 v
CES
比率 的 这 设备.
(这些 测试 应当 不 是 完毕 用 使用 一个 曲线 tracer 或者 它的 相等的.)
mitsubishi 半导体 <intelligent 电源 modules>
pm50ctj060-3
insulated 包装
flat-根基 类型
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