8
lt1460s3 (sot-23)
100
µ
s/div
V
GEN
V
输出
V
输出
1460s3 f02
2.5v
1.5v
1mA
10mA
1
µ
s/div
图示 2. c
L
= 0
µ
F
V
GEN
V
输出
1460s3-5 f03
2.5v
1.5v
1mA
10mA
图示 3. c
L
= 0.1
µ
F
V
GEN
1460s3 f04
2.5v
1.5v
1
µ
F
100
µ
s/div
图示 4. i
输出
= 1ma
V
输出
4.7
µ
F
V
输出
V
输出
APPLICATIONs iN为MATION
WUU
U
表格 1 给 这 最大 输出 电容 为 各种各样的
加载 电流 和 输出 电压 至 避免 instability. 加载
电容 和 低 等效串联电阻 (有效的 序列 阻抗) 导致
更多 ringing 比 电容 和 高等级的 等效串联电阻 此类 作
polarized 铝 或者 tantalum 电容.
表格 1. 最大 输出 电容
电压
选项 I
输出
= 100
µ
AI
输出
= 1ma I
输出
= 10ma I
输出
= 20ma
2.5v >10
µ
f>10
µ
F2
µ
F 0.68
µ
F
3V >10
µ
f>10
µ
F2
µ
F 0.68
µ
F
3.3v >10
µ
f>10
µ
F1
µ
F 0.68
µ
F
5V >10
µ
f>10
µ
F1
µ
F 0.68
µ
F
10V >10
µ
F1
µ
F 0.15
µ
F 0.1
µ
F
长-期 逐渐变化
长-期 逐渐变化 不能 是 extrapolated 从 acceler-
ated 高 温度 测试. 这个 erroneous tech-
nique 给 逐渐变化 号码 那 是 widely optimistic. 这
仅有的 方法 长-期 逐渐变化 能 是 决定 是 至 mea-
确信 它 在 这 时间 间隔 的 interest.
这 lt1460s3
长-期 逐渐变化 数据 是 带去 在 在 100 部分 那 是
焊接 在 pc boards 类似的 至 一个 “real world” applica-
tion. 这 boards 是 然后 放置 在 一个 常量 tempera-
ture oven 和 t
一个
= 30
°
c, 它们的 输出 是 scanned
regularly 和 量过的 和 一个 8.5 数字 dvm. 图示 5
显示 典型 长-期 逐渐变化 的 这 lt1460s3s.
小时
–150
ppm
–50
50
150
–100
0
100
200 400 600 800
1460s3 f05
10001000 300 500 700 900
图示 5. 典型 长-期 逐渐变化
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