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rev. 5/16/03 sp481e 低 电源 half-duplex rs485 transceivers © 版权 2003 sipex 公司
这 人 身体 模型 有 被 这 一般地
accepted 静电释放 测试 方法 为 半导体.
这个 方法 是 也 指定 在 mil-标准-883,
方法 3015.7 为 静电释放 测试. 这 premise 的
这个 静电释放 测试 是 至 simulate 这 人 身体’s
潜在的 至 store electro-静态的 活力 和
释放 它 至 一个 整体的 电路. 这
simulation 是 执行 用 使用 一个 测试 模型 作
显示 在
图示 7
. 这个 方法 将 测试 这
ic’s 能力 至 承受 一个 静电释放 瞬时
在 正常的 处理 此类 作 在 制造
areas 在哪里 这 ics tend 至 是 处理 frequently.
这 iec-1000-4-2, formerly iec801-2, 是
一般地 使用 为 测试 静电释放 在 设备 和
系统. 为 系统 manufacturers, 它们 必须
保证 一个 确实 数量 的 静电释放 保护
自从 这 系统 它自己 是 exposed 至 这 外部
环境 和 人 存在. 这 premise
和 iec1000-4-2 是 那 这 系统 是 必需的
至 承受 一个 数量 的 静态的 electricity 当
静电释放 是 应用 至 点 和 surfaces 的 这
设备 那 是 accessible 至 personnel 在
正常的 用法. 这 transceiver ic receives 大多数
的 这 静电释放 电流 当 这 静电释放 源 是
应用 至 这 连接器 管脚. 这 测试 电路 为
iec1000-4-2 是 显示 在
图示 8
. 那里 是
二 方法 在里面 iec1000-4-2, 这 空气
释放 方法 和 这 联系 释放
方法.
RR
CC
CC
SS
RR
SS
SW1SW1
SW2SW2
R
C
设备
下面
测试
直流 电源
源
C
S
R
S
SW1
SW2
图示 7. 静电释放 测试 电路 为 人 身体 模型
RR
s s
andand
RR
v v
增加 向上 至 330add 向上 至 330
ΩΩ
f 为 iec1000-4-2.或者 iec1000-4-2.
R
S
和
R
V
增加 向上 至 330
Ω
为 iec1000-4-2.
联系-释放 modulecontact-释放 单元
RR
VV
RR
CC
CC
SS
RR
SS
SW1SW1
SW2SW2
R
C
设备
下面
测试
直流 电源
源
C
S
R
S
SW1
SW2
R
V
联系-释放 单元
图示 8. 静电释放 测试 电路 为 iec1000-4-2
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