idt7024s/l
高-速 4k x 16 双-端口 静态的 内存 军队 和 商业的 温度 范围
6.15 7
交流 电的 特性 在 这
运行 温度 和 供应 电压 范围
(4)
IDT7024X15 IDT7024X17 IDT7024X20 IDT7024X25
com'l. 仅有的 com'l. 仅有的
标识 参数 最小值 最大值 最小值 最大值 最小值 最大值 最小值 最大值 单位
读 循环
t
RC
读 循环 时间 15 — 17 — 20 — 25 — ns
t
AA
地址 进入 时间 — 15 — 17 — 20 — 25 ns
t
ACE
碎片 使能 进入 时间
(3)
— 15 — 17 — 20 — 25 ns
t
ABE
字节 使能 进入 时间
(3)
— 15 — 17 — 20 — 25 ns
t
AOE
输出 使能 进入 时间 — 10 — 10 — 12 — 13 ns
t
OH
输出 支撑 从 地址 改变 3 — 3 — 3 — 3 — ns
t
LZ
输出 低-z 时间
(1, 2)
3 — 3 — 3 — 3 — ns
t
HZ
输出 高-z 时间
(1, 2)
— 10 — 10 — 12 — 15 ns
t
PU
碎片 使能 至 电源 向上 时间
(1,2)
0 — 0 — 0 — 0 — ns
t
PD
碎片 使不能运转 至 电源 向下 时间
(1,2)
— 15 — 17 — 20 — 25 ns
t
SOP
semaphore 标记 更新 脉冲波 (
OE
或者
SEM
) 10 — 10 — 10 — 10 — ns
t
SAA
semaphore 地址 进入
(3)
— 15 — 17 — 20 — 25 ns
IDT7024X35 IDT7024X55 IDT7024X70
mil. 仅有的
标识 参数 最小值 最大值 最小值 最大值 最小值 最大值 单位
读 循环
t
RC
读 循环 时间 35 — 55 — 70 — ns
t
AA
地址 进入 时间 — 35 — 55 — 70 ns
t
ACE
碎片 使能 进入 时间
(3)
—35—55—70ns
t
ABE
字节 使能 进入 时间
(3)
—35—55—70ns
t
AOE
输出 使能 进入 时间 — 20 — 30 — 35 ns
t
OH
输出 支撑 从 地址 改变 3 — 3 — 3 — ns
t
LZ
输出 低-z 时间
(1, 2)
3—3—3—ns
t
HZ
输出 高-z 时间
(1, 2)
—15—25—30ns
t
PU
碎片 使能 至 电源 向上 时间
(1,2)
0—0—0—ns
t
PD
碎片 使不能运转 至 电源 向下 时间
(1,2)
—35—50—50ns
t
SOP
semaphore 标记 更新 脉冲波 (
OE
或者
SEM
) 15—15—15—ns
t
SAA
semaphore 地址 进入
(3)
—35—55—70ns
交流 测试 情况
输入 脉冲波 水平 地 至 3.0v
输入 上升/下降 时间 5ns 最大值
输入 定时 涉及 水平 1.5v
输出 涉及 水平 1.5v
输出 加载 计算数量 1 和 2
2740 tbl 12
注释:
2740 tbl 13
1. 转变 是 量过的
±
500mv 从 低 或者 高-阻抗 电压 和 这 输出 测试 加载 (图示 2).
2. 这个 参数 是 有保证的 用 设备 描绘, 但是 是 不 生产 测试.
3. 至 进入 内存,
CE
= v
IL
,
UB
或者
LB
= v
IL
, 和
SEM
=V
IH
. 至 进入 semaphore,
CE
= v
IH
或者
UB
&放大;
LB
= v
ih, 和
SEM
=V
il.
4. "x" 在 部分 号码 indicates 电源 比率 (s 或者 l).
2740 drw 06
1250
Ω
30pF775
Ω
5V
数据
输出
BUSY
INT
1250
Ω
5pF775
Ω
5V
数据
输出
图示 1. 交流 输出 测试 加载 图示 2. 输出 测试 加载
(为 tlz, thz, twz, tow)
包含 scope 和 jig
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