ULN2003AIN_集成电路资料查询网

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PARAMETERMEASUREMENTINFORMATION
打开
V
CE
打开
I
CEX
图示 1. i
CEX
测试电路
打开
V
CE
I
C
I
i(止)
图示 2. i
i(止)
测试电路
打开
打开
I
i(在)
V
I
图示 3. i
I
测试电路
打开
V
CE
I
C
I
I
h
FE
=
I
C
I
I
便条: I
I
是 fixed 为 测量 v
ce(sat)
, 能变的 为
测量 h
FE
.
图示4. h
FE
, v
ce(sat)
测试电路
打开
V
CE
I
C
V
i(在)
图示 5. v
i(在)
Test 电路
V
R
打开
I
R
图示 6. i
R
测试电路
I
F
V
F
打开
图示 7. v
F
Test 电路
ULN2003AI
高-电压,高-电流
DARLINGTONTRANSISTORARRAY
SLRS054B–JULY2003–REVISEDFEBRUARY2005
5

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内　容:
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www.德州仪器.com PARAMETERMEASUREMENTINFORMATION 打开 V CE 打开 I CEX 图示 1. i CEX 测试电路打开 V CE I C I i(止) 图示 2. i i(止) 测试电路打开打开 I i(在) V I 图示 3. i I 测试电路打开 V CE I C I I h FE = I C I I 便条: I I 是 fixed 为测量 v ce(sat) , 能变的为测量 h FE . 图示4. h FE , v ce(sat) 测试电路打开 V CE I C V i(在) 图示 5. v i(在) Test 电路 V R 打开 I R 图示 6. i R 测试电路 I F V F 打开图示 7. v F Test 电路 ULN2003AI 高-电压,高-电流 DARLINGTONTRANSISTORARRAY SLRS054B–JULY2003–REVISEDFEBRUARY2005 5

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