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资料编号:684944
 
资料名称:PALCE20V8-25PC
 
文件大小: 352.29K
   
说明
 
介绍:
Flash Erasable, Reprogrammable CMOS PAL Device
 
 


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PALCE20V8
电的 特性
在 这 运行 范围
[2]
参数 描述 测试 情况 最小值 最大值 单位
V
OH
输出 高 电压 V
CC
= 最小值.,
V
= v
IH
或者 v
IL
I
OH
=
3.2 毫安 Com
l 2.4 V
I
OH
=
2 毫安 mil/ind
V
OL
输出 低 电压 V
CC
= 最小值.,
V
= v
IH
或者 v
IL
I
OL
= 24 毫安 Com
l 0.5 V
I
OL
= 12 毫安 mil/ind
V
IH
输入 高 水平的 有保证的 输入 logical 高 电压 为 所有 输入
[3]
2.0 V
V
IL
[4]
输入 低 水平的 有保证的 输入 logical 低 电压 为 所有 输入
[3]
0.5 0.8 V
I
IH
输入 或者 i/o 高 泄漏
电流
3.5v <V
<V
CC
10
µ
一个
I
IL
[5]
输入 或者 i/o 低 泄漏
电流
0v <V
<V
(最大值.)
100
µ
一个
I
SC
输出 短的 电路 电流 V
CC
= 最大值., v
输出
= 0.5v
[6,7]
30
150 毫安
I
CC
运行 电源 供应
电流
V
CC
= 最大值.,
V
IL
= 0v, v
IH
= 3v,
输出 打开,
f = 15 mhz
(计数器)
5, 7, 10 ns Com
l 115 毫安
15, 25 ns 90 毫安
10, 15, 25 ns mil/ind 130 毫安
电容
[7]
参数 描述 测试 情况 Typ. 单位
C
输入 电容 V
= 2.0v @ f = 1 mhz 5 pF
C
输出
输出 电容 V
输出
= 2.0v @ f = 1 mhz 5 pF
忍耐力 特性
[7]
参数 描述 测试 情况 最小值 最大值 单位
N 最小 reprogramming 循环 正常的 程序编制 情况 100 循环
注释:
2. 看 这 last 页 的 这个 规格 为 组 一个 subgroup 测试 信息.
3. 这些 是 绝对 值 和 遵守 至 设备 地面. 所有 overshoots 预定的 至 系统 或者 tester 噪音 是 包含.
4. V
IL
(最小值.) 是 equal 至
3.0v 为 脉冲波 durations 较少 比 20 ns.
5. 这 泄漏 电流 是 预定的 至 这 内部的 拉-向上 电阻 在 所有 管脚.
6. 不 更多 比 一个 输出 应当 是 测试 在 一个 时间. 持续时间 的 这 短的 电路 应当 不 是 更多 比 一个 第二. v
输出
= 0.5v 有 被 选择 至 避免 测试 问题
造成 用 tester 地面 降级.
7. 测试 initially 和 之后 任何 设计 或者 处理 改变 那 将 影响 这些 参数.
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