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一般 描述
典型 cap. 改变 vs. d.c. 伏特
X7R
典型 cap. 改变 vs. 温度
X7R
影响 的 时间 –
类 2 陶瓷的 电容 改变
电容 和 消耗 因素 和 时间 作 好 作 tem-
perature, 电压 和 频率. 这个 改变 和 时间 是
知道 作 变旧. 变旧 是 造成 用 一个 gradual re-排成直线
的 这 crystalline 结构 的 这 陶瓷的 和 生产 一个
exponential 丧失 在 电容 和 decrease 在 消耗
因素 相比 时间. 一个 典型 曲线 的 变旧 比率 为 semi-
稳固的 ceramics 是 显示 在 图示 6.
如果 一个 类 2 陶瓷的 电容 那 有 被 sitting 在 这
shelf 为 一个 时期 的 时间, 是 heated 在之上 它的 curie 要点,
(125°c 为 4 小时 或者 150°c 为
1
⁄
2
小时 将 suffice) 这 部分
将 de-age 和 返回 至 它的 最初的 电容 和 dissi-
pation 因素 readings. 因为 这 电容 改变
迅速, 立即 之后 de-变旧, 这 基本 电容
度量 是 正常情况下 涉及 至 一个 时间 时期 一些-
时间 之后 这 de-变旧 处理. 各种各样的 manufacturers 使用
不同的 时间 根基 但是 这 大多数 popular 一个 是 一个 日
或者 twenty-四 小时 之后 “last 热温.” 改变 在 这 变旧
曲线 能 是 造成 用 这 应用 的 电压 和
其它 压力. 这 可能 改变 在 电容 预定的 至
de-变旧 用 加热 这 单位 explain why 电容
改变 是 允许 之后 测试, 此类 作 温度 cycling,
潮气 阻抗, 等., 在 mil 规格. 这 应用 的
高 电压 此类 作 dielectric 承受 电压 也
tends 至 de-age 电容 和 是 why re-读 的 capaci-
tance 之后 12 或者 24 小时 是 允许 在 军队 specifica-
tions 之后 dielectric 力量 tests 有 被 执行.
影响 的 频率 –
频率 affects 电容
和 阻抗 特性 的 电容. 这个 效应 是
更 更多 pronounced 在 高 dielectric 常量 陶瓷的
formulation 那 是 低 k formulations. avx’s spicap 软-
ware 发生 阻抗, 等效串联电阻, 序列 电感, 序列
resonant 频率 和 电容 所有 作 功能 的
频率, 温度 和 直流 偏差 为 标准 碎片 sizes
和 样式. 它 是 有 自由 从 avx 和 能 是 向下-
承载 为 自由 从 avx 网站: www.avxcorp.com.
25% 50% 75% 100%
百分比 评估 伏特
电容 改变 百分比
2.5
0
-2.5
-5
-7.5
-10
0VDC
-55 -35 -15 +5 +25 +45 +65 +85 +105 +125
温度 degrees 摄氏度的
电容 改变 百分比
+20
+10
0
-10
-20
-30
图示 4
图示 5
1 10 100 1000 10,000 100,000
小时
电容 改变 百分比
+1.5
0
-1.5
-3.0
-4.5
-6.0
-7.5
典型的 最大值 变旧 比率 %/decade
c0g (np0)
x7r, x5r
Y5V
毫无
2
7
图示 6
典型 曲线 的 变旧 比率
X7R
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