飞利浦 半导体 产品 规格
74F1648-位 串行-在 并行的-输出 变换 寄存器
1995 sep 22
4
直流 电的 特性
(在 推荐 运行 自由-空气 温度 范围 除非 否则 指出.)
标识 参数
测试 限制 单位
标识 参数
情况
1
最小值 典型值
2
最大值
V
OH
高-水平的 输出 电压
V
CC
= 最小值, v
IL
= 最大值,
±
10%V
CC
2.5 V
V
OH
高-水平的 输出 ut 电压
CC IL
V
IH
= 最小值, i
OH
= 最大值
±
5%V
CC
2.7 3.4 V
V
OL
低-水平的 输出 电压
V
CC
= 最小值, v
IL
= 最大值,
±
10%V
CC
0.30 0.50 V
CC IL
V
IH
= 最小值, i
OL
= 最大值
±
5%V
CC
0.30 0.50 V
V
IK
输入 clamp 电压 V
CC
= 最小值, i
I
= i
IK
–0.73 –1.2 V
I
I
输入 电流 在 最大 输入 电压 V
CC
= 最大值, v
I
= 7.0v 100
µ
一个
I
IH
高-水平的 输入 电流 V
CC
= 最大值, v
I
= 2.7v 20
µ
一个
I
ILL
低-水平的 输入 电流 V
CC
= 最大值, v
I
= 0.5v –0.6 毫安
I
OS
短的-电路 输出 电流
3
V
CC
= 最大值 -60 –150 毫安
I
CC
供应 电流 (总的)4 V
CC
= 最大值 33 55 毫安
注释 至 直流 电的 特性
1. 为 情况 显示 作 最小值 或者 最大值, 使用 这 适合的 值 指定 下面 推荐 运行 情况 为 这 适用 类型.
2. 所有 典型 值 是 在 v
CC
= 5v, t
amb
= 25
°
c.
3. 不 更多 比 一个 输出 应当 是 短接 在 一个 时间. 为 测试 i
OS
, 这 使用 的 高-速 测试 apparatus 和/或者 样本-和-支撑
技巧 是 preferable 在 顺序 至 降低 内部的 加热 和 更多 准确地 反映 运算的 值. 否则, prolonged shorting
的 一个 高 输出 将 raise 这 碎片 温度 好 在之上 正常的 和 因此 导致 invalid readings 在 其它 参数 tests. 在 任何
sequence 的 参数 测试, i
OS
tests 应当 是 执行 last.
4. measure i
CC
和 这 串行 输入 grounded, 这 时钟 输入 在 2.4v, 和 一个 momentary 地面, 然后 应用 至 主控 重置, 和 所有 输出s
打开.
应用
重置
时钟
数据
使能
Dsa
Dsb
Dsa
Dsb
CP MR
D0 D1 D2 D3 D4 D5 D6 D7
D8 D9 D10 D11 D12 D13 D14 D15
CP MR
H
74F164 74F164
Q0 Q1 Q2 Q3 Q4 Q5 Q6 Q7
Q0 Q1 Q2 Q3 Q4 Q5 Q6 Q7
SF00716
这 74f164 能 是 倾泻 至 表格 同步的 变换 寄存器 的 变长 长度.
here, 二 设备 是 联合的 至 表格 一个 16-位 变换 寄存器.
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