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注释:
1. 顶峰 向前 输入 电流 脉冲波 宽度 < 50
µ
s 在 1 khz 最大 repetition 比率.
2. 各自 频道 的 一个 multichannel 设备.
3. 持续时间 的 输出 短的 电路 时间 不 至 超过 10 ms.
4. 所有 设备 是 考虑 二-终端 设备: 量过的 在 所有 输入 leads 或者 terminals 短接 一起 和 所有 输出 leads
或者 terminals 短接 一起.
5. 这个 是 一个 momentary 承受 测试, 不 一个 运行 情况.
6. cm
L
是 这 最大 比率 的 上升 的 这 一般 模式 电压 那 能 是 sustained 和 这 输出 电压 在 这 逻辑 低 状态 (v
O
< 0.8 v). cm
H
是 这 最大 比率 的 下降 的 这 一般 模式 电压 那 能 是 sustained 和 这 输出 电压 在 这 逻辑
高 状态 (v
O
> 2.0 v).
7. t
PHL
传播 延迟 是 量过的 从 这 50% 要点 在 这 leading 边缘 的 这 输入 脉冲波 至 这 1.3 v 要点 在 这 leading 边缘
的 这 输出 脉冲波. 这 t
PLH
传播 延迟 是 量过的 从 这 50% 要点 在 这 trailing 边缘 的 这 输入 脉冲波 至 这 1.3 v
要点 在 这 trailing 边缘 的 这 输出 脉冲波.
8. 量过的 在 各自 输入 一双 短接 一起 和 所有 输出 连接 为 那 频道 短接 一起.
9. 量过的 在 调整 输入 pairs 短接 一起 为 各自 multichannel 设备.
10. 零-偏差 电容 量过的 在 这 led anode 和 cathode.
11. 标准 部分 receive 100% 测试 在 25
°
c (subgroups 1 和 9). smd, 类 h 和 类 k 部分 receive 100% 测试 在 25, 125,
和 –55
°
c (subgroups 1 和 9, 2 和 10, 3 和 11, respectively).
12. 参数 是 测试 作 部分 的 设备 最初的 描绘 和 之后 设计 和 处理 改变. 参数 有保证的 至 限制
指定 为 所有 lots 不 specifically 测试.
单独的 频道 产品 仅有的
参数 标识 典型值 单位 测试 情况 图. 注释
输出 使能 时间 至 逻辑 高 t
PZH
30 ns 8
输出 使能 时间 至 逻辑 低 t
PZL
30 ns 8
输出 使不能运转 时间 从 逻辑 高 t
PHZ
45 ns 8
输出 使不能运转 时间 从 逻辑 低 t
PLZ
55 ns 8
双 和 四方形 频道 产品 仅有的
rh = 45%, t
一个
= 25
°
c,
输入-输入 绝缘 泄漏 电流 I
i-i
0.5 nA
V
i-i
= 500 v, t = 5 s 9
阻抗 (输入-输入) R
i-i
10
13
Ω
V
i-i
= 500 v 9
电容 (输入-输入) C
i-i
1.5 pF f = 1 mh 9
典型 特性 (内容’d.)
所有 典型 值 是 在 t
一个
= 25
°
c, v
CC
= 5 v, i
f(在)
= 5 毫安, 除非 否则 指定.
图示 1. 典型 逻辑 低 输出
电压 vs. 温度.
图示 2. 典型 逻辑 高 输出
电流 vs. 温度.
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