M27C800-100K1TR_集成电路资料查询网

M27C800
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表格 8a. 读 模式 交流 特性
(1)
(t
一个
=0to70°cor–40to85°c;v
CC
= 5V ± 5% 或者 5V ± 10%; V
PP
=V
CC
)
便条: 1. V
CC
必须 是 应用 同时发生地 和 或者 在之前 V
PP
和 移除 同时发生地 或者 之后 V
pp.
2. 抽样 仅有的, 不 100% 测试.
3. 速 得到 和 高 速 交流 度量 情况.
表格 8b. 读 模式 交流 特性
(1)
(t
一个
=0to70°cor–40to85°c;v
CC
= 5V ± 5% 或者 5V ± 10%; V
PP
=V
CC
)
便条: 1. V
CC
必须 是 应用 同时发生地 和 或者 在之前 V
PP
和 移除 同时发生地 或者 之后 V
pp.
2. 抽样 仅有的, 不 100% 测试.
标识 Alt 参数 测试 情况
M27C800
单位
-50
(3)
-70 -90
最小值 最大值 最小值 最大值 最小值 最大值
t
AVQV
t
ACC
地址 有效的 至 输出
有效的
E
=V
IL
,g=V
IL
50 70 90 ns
t
BHQV
t
ST
字节 高 至 输出
有效的
E
=V
IL
,g=V
IL
50 70 90 ns
t
ELQV
t
CE
碎片 使能 低 至
输出 有效的
G
=V
IL
50 70 90 ns
t
GLQV
t
OE
输出 使能 低 至
输出 有效的
E
=V
IL
30 35 45 ns
t
BLQZ
(2)
t
标准
字节 低 至 输出 hi-z
E
=V
IL
,g=V
IL
30 30 30 ns
t
EHQZ
(2)
t
DF
碎片 使能 高 至
输出 hi-z
G
=V
IL
030030030ns
t
GHQZ
(2)
t
DF
输出 使能 高 至
输出 hi-z
E
=V
IL
030030030ns
t
AXQX
t
OH
地址 转变 至
输出 转变
E
=V
IL
,g=V
IL
555ns
t
BLQX
t
OH
字节 低 至 输出
转变
E
=V
IL
,g=V
IL
555ns
标识 Alt 参数 测试 情况
M27C800
单位-100 -120/150
最小值 最大值 最小值 最大值
t
AVQV
t
ACC
地址 有效的 至 输出 有效的
E
=V
IL
,g=V
IL
100 120 ns
t
BHQV
t
ST
字节 高 至 输出 有效的
E
=V
IL
,g=V
IL
100 120 ns
t
ELQV
t
CE
碎片 使能 低 至 输出 有效的
G
=V
IL
100 120 ns
t
GLQV
t
OE
输出 使能 低 至 输出 有效的
E
=V
IL
50 60 ns
t
BLQZ
(2)
t
标准
字节 低 至 输出 hi-z
E
=V
IL
,g=V
IL
40 50 ns
t
EHQZ
(2)
t
DF
碎片 使能 高 至 输出 hi-z
G
=V
IL
040050ns
t
GHQZ
(2)
t
DF
输出 使能 高 至 输出 hi-z
E
=V
IL
040050ns
t
AXQX
t
OH
地址 转变 至 输出 转变
E
=V
IL
,g=V
IL
55ns
t
BLQX
t
OH
字节 低 至 输出 转变
E
=V
IL
,g=V
IL
55ns

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M27C800 6/18 表格 8a. 读模式交流特性 (1) (t 一个 =0to70°cor–40to85°c;v CC = 5V ± 5% 或者 5V ± 10%; V PP =V CC ) 便条: 1. V CC 必须是应用同时发生地和或者在之前 V PP 和移除同时发生地或者之后 V pp. 2. 抽样仅有的, 不 100% 测试. 3. 速得到和高速交流度量情况. 表格 8b. 读模式交流特性 (1) (t 一个 =0to70°cor–40to85°c;v CC = 5V ± 5% 或者 5V ± 10%; V PP =V CC ) 便条: 1. V CC 必须是应用同时发生地和或者在之前 V PP 和移除同时发生地或者之后 V pp. 2. 抽样仅有的, 不 100% 测试. 标识 Alt 参数测试情况 M27C800 单位 -50 (3) -70 -90 最小值最大值最小值最大值最小值最大值 t AVQV t ACC 地址有效的至输出有效的 E =V IL ,g=V IL 50 70 90 ns t BHQV t ST 字节高至输出有效的 E =V IL ,g=V IL 50 70 90 ns t ELQV t CE 碎片使能低至输出有效的 G =V IL 50 70 90 ns t GLQV t OE 输出使能低至输出有效的 E =V IL 30 35 45 ns t BLQZ (2) t 标准字节低至输出 hi-z E =V IL ,g=V IL 30 30 30 ns t EHQZ (2) t DF 碎片使能高至输出 hi-z G =V IL 030030030ns t GHQZ (2) t DF 输出使能高至输出 hi-z E =V IL 030030030ns t AXQX t OH 地址转变至输出转变 E =V IL ,g=V IL 555ns t BLQX t OH 字节低至输出转变 E =V IL ,g=V IL 555ns 标识 Alt 参数测试情况 M27C800 单位-100 -120/150 最小值最大值最小值最大值 t AVQV t ACC 地址有效的至输出有效的 E =V IL ,g=V IL 100 120 ns t BHQV t ST 字节高至输出有效的 E =V IL ,g=V IL 100 120 ns t ELQV t CE 碎片使能低至输出有效的 G =V IL 100 120 ns t GLQV t OE 输出使能低至输出有效的 E =V IL 50 60 ns t BLQZ (2) t 标准字节低至输出 hi-z E =V IL ,g=V IL 40 50 ns t EHQZ (2) t DF 碎片使能高至输出 hi-z G =V IL 040050ns t GHQZ (2) t DF 输出使能高至输出 hi-z E =V IL 040050ns t AXQX t OH 地址转变至输出转变 E =V IL ,g=V IL 55ns t BLQX t OH 字节低至输出转变 E =V IL ,g=V IL 55ns

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