ucsp 包装 仔细考虑
为 一般 ucsp 包装 信息 和 pc 布局
仔细考虑, 请 谈及 至 这 maxim 应用
便条 (薄脆饼-水平的 过激-碎片-板-规模 包装).
ucsp 可靠性
这 碎片-规模 包装 (ucsp) 代表 一个 唯一的
包装 表格 因素 那 将 不 执行 equally 至 一个
packaged 产品 通过 传统的 机械的 relia-
bility tests. ucsp 可靠性 是 integrally linked 至 这
用户’s 组装 方法, 电路 板 材料, 和
用法 环境. 这 用户 应当 closely review
这些 areas 当 considering 使用 的 一个 ucsp 包装.
效能 通过 运行 生命 测试 和 潮气
阻抗 仍然是 uncompromised 作 它 是 primarily
决定 用 这 薄脆饼-fabrication 处理.
机械的 压力 效能 是 一个 更好 considera-
tion 为 一个 ucsp 包装. ucsps 是 连结 通过
直接 焊盘 联系 至 这 用户’s pc 板, foregoing
这 固有的 压力 relief 的 一个 packaged 产品 含铅的
框架. 焊盘 joint 联系 integrity 必须 是 consid-
ered. 信息 在 maxim’s 资格 计划, 测试
数据, 和 recommendations 是 详细地 在 这 ucsp
应用 便条, 这个 能 是 建立 在 maxim’s 网-
站点 在 www.maxim-ic.com.
碎片 信息
晶体管 计数: 198
max4684/max4685
0.5
Ω
/0.8
Ω
低-电压, 双 spdt
相似物 switches 在 ucsp
_______________________________________________________________________________________ 7
t
r
< 5ns
t
f
< 5ns
50%
V
IL
逻辑
输入
R
L
50
Ω
com_
地
在_
C
L
包含 fixture 和 偏离 电容.
V
输出
= v
n_
(
R
L
)
R
L
+ r
在
V
在_
V
IH
t
止
0
非_
或者 nc
0.9 x v
0UT
0.9 x v
输出
t
在
V
输出
转变
输出
逻辑
输入
逻辑 输入 波形 inverted 为 switches
那 有 这 opposite 逻辑 sense.
V+
C
L
35pF
V+
V
输出
MAX4684
MAX4685
图示 2. 切换 时间
Test 电路/定时 图解
50%
V
IH
V
IL
逻辑
输入
V
输出
0.9 x v
输出
t
D
逻辑
输入
R
L
50
Ω
地
C
L
包含 fixture 和 偏离 电容.
非_
在_
nc_
V
输出
V+
V+
C
L
35pF
V
n_
com_
MAX4684
MAX4685
图示 3. 破裂-在之前-制造 间隔
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