MC74HC573ADT_集成电路资料查询网

mc54/74hc573a
high–speed cmos 逻辑 数据
dl129 — rev 6
5 MOTOROLA
切换 波形
V
CC
地
t
f
t
r
输入 d
Q
10%
50%
90%
10%
50%
90%
t
TLH
t
PLH
t
PHL
t
THL
输出
使能
Q
Q
50%
50%
1.3 v
90%
10%
t
PZL
t
PLZ
t
PZH
t
PHZ
3.0 v
地
高
阻抗
V
OL
V
OH
高
阻抗
* 包含 所有 探查 和 jig 电容
C
L
*
测试 要点
设备
下面
测试
输出
* 包含 所有 探查 和 jig 电容
C
L
*
测试 要点
设备
下面
测试
输出
连接 至 v
CC
当
测试 t
PLZ
和 t
PZL
.
连接 至 地 当
测试 t
PHZ
和 t
PZH
.
1 k
Ω
图示 1. 图示 2.
图示 3. 图示 4.
V
CC
地
50%
50%
获得
使能
t
PLH
t
PHL
Q
t
w
图示 5. 测试 电路
图示 6. 测试 电路
expanded 逻辑 图解
D
LE
Q
D0
2
19
Q0
D
LE
Q
D1
3
18
Q1
D
LE
Q
D2
4
17
Q2
D
LE
Q
D3
5
16
Q3
D
LE
Q
D4
6
15
Q4
D
LE
Q
D5
7
14
Q5
D
LE
Q
D6
8
13
Q6
D
LE
Q
D7
9
12
Q7
获得 使能
输出 使能
11
1
V
CC
地
V
CC
地
50%
50%
有效的
t
SU
t
h
输入 d
获得
使能

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mc54/74hc573a high–speed cmos 逻辑数据 dl129 — rev 6 5 MOTOROLA 切换波形 V CC 地 t f t r 输入 d Q 10% 50% 90% 10% 50% 90% t TLH t PLH t PHL t THL 输出使能 Q Q 50% 50% 1.3 v 90% 10% t PZL t PLZ t PZH t PHZ 3.0 v 地高阻抗 V OL V OH 高阻抗 * 包含所有探查和 jig 电容 C L * 测试要点设备下面测试输出 * 包含所有探查和 jig 电容 C L * 测试要点设备下面测试输出连接至 v CC 当测试 t PLZ 和 t PZL . 连接至地当测试 t PHZ 和 t PZH . 1 k Ω 图示 1. 图示 2. 图示 3. 图示 4. V CC 地 50% 50% 获得使能 t PLH t PHL Q t w 图示 5. 测试电路图示 6. 测试电路 expanded 逻辑图解 D LE Q D0 2 19 Q0 D LE Q D1 3 18 Q1 D LE Q D2 4 17 Q2 D LE Q D3 5 16 Q3 D LE Q D4 6 15 Q4 D LE Q D5 7 14 Q5 D LE Q D6 8 13 Q6 D LE Q D7 9 12 Q7 获得使能输出使能 11 1 V CC 地 V CC 地 50% 50% 有效的 t SU t h 输入 d 获得使能

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