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10-14
测试 电路
图示 4. 非线性 测试 电路
图示 5. 电源 供应 拒绝 测试 电路
图示 6. 噪音 测试 电路
HA2600
时钟
14-位
涉及
DAC
-
+
HA2600
-
+
12-位
二进制的
计数器
AD7541
AD7541
17 16
18
1
2
3
15
5
4
线性
错误 x 100
10k 0.01%
10K
0.01%
I
OUT1
I
OUT2
R
反馈
1M
Ω
+15V
V
REF
位 1 (msb)
位 12
(lsb)
V
REF
地
位 1
(msb)
位 12
位 13
位 14
HA2600
+
-
AD7541
17 16
18
1
2
3
15
5
4
V
REF
+10V
位 1 (msb)
位 12
(lsb)
地
R
反馈
I
OUT1
I
OUT2
+15V
UNGROUNDED
sine 波
一代
40hz 1.0v
p-p
5k 0.01%
5k 0.01%
500K
V
错误
x 100
HA2600
+
-
101ALN
QUAN
TECH
模型
134D
波
分析器
AD7541
17 16
2
1
3
15
5
4
+11v (调整 为 v
输出
= 0v)
+15V
15
µ
F
I
OUT2
I
OUT1
100
Ω
10K
V
输出
1K50K
0.1
µ
F
-50v
f = 1khz
bw = 1hz
1K
+
-
AD7541

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10-14 测试电路图示 4. 非线性测试电路图示 5. 电源供应拒绝测试电路图示 6. 噪音测试电路 HA2600 时钟 14-位涉及 DAC - + HA2600 - + 12-位二进制的计数器 AD7541 AD7541 17 16 18 1 2 3 15 5 4 线性错误 x 100 10k 0.01% 10K 0.01% I OUT1 I OUT2 R 反馈 1M Ω +15V V REF 位 1 (msb) 位 12 (lsb) V REF 地位 1 (msb) 位 12 位 13 位 14 HA2600 + - AD7541 17 16 18 1 2 3 15 5 4 V REF +10V 位 1 (msb) 位 12 (lsb) 地 R 反馈 I OUT1 I OUT2 +15V UNGROUNDED sine 波一代 40hz 1.0v p-p 5k 0.01% 5k 0.01% 500K V 错误 x 100 HA2600 + - 101ALN QUAN TECH 模型 134D 波分析器 AD7541 17 16 2 1 3 15 5 4 +11v (调整为 v 输出 = 0v) +15V 15 µ F I OUT2 I OUT1 100 Ω 10K V 输出 1K50K 0.1 µ F -50v f = 1khz bw = 1hz 1K + - AD7541

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