测试 电路系统
(ecl-至-ttl)
切换 波形
(ecl-至-ttl)
ds100306-10
便条 18:
R
T
=
50
Ω
末端 resistive 加载. 当 一个 输入 或者 输出 是 正在 监控 用 一个 scope, R
T
是 有提供的 用 这 scope’s 50
Ω
输入 阻抗. 当
一个 输入 或者 输出 是 不 正在 监控, 一个 外部 50
Ω
阻抗 必须 是 应用 至 提供 作 R
T
.
便条 19:
这 TTL 触发-状态 拉-向上 转变 是 连接 至 +7V 仅有的 为 ZL 和 LZ tests.
便条 20:
TTL 和 ECL 强迫 信号 是 brought 至 这 DUT 通过 50
Ω
coax 线条.
便条 21:
V
TTL
是 decoupled 至 地面 和 0.1 µf, V
EE
是 decoupled 至 地面 和 0.01 µF 和 V
CC
是 连接 至 地面.
图示 3. ecl-至-ttl 交流 测试 电路
ds100306-11
便条:
DIR 是 低, OE 是 高
图示 4. ecl-至-ttl 转变 — 传播 延迟 和 转变 时间
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