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测试 电路系统
(ecl-至-ttl)
便条 14:
R
T
=
50
Ω
末端 resistive 加载. 当 一个 输入 或者 输出 是 正在 监控 用 一个 scope, r
T
是 有提供的 用 这 scope
’
s 50
Ω
输入 阻抗.
当 一个 输入 或者 输出 是 不 正在 监控, 一个 外部 50
Ω
阻抗 必须 是 应用 至 提供 作 r
T
.
便条 15:
这 ttl 3-状态 拉-向上 转变 是 连接 至
+
7v 仅有的 为 zl 和 lz tests.
便条 16:
ttl 和 ecl 强迫 信号 是 brought 至 这 dut 通过 50
Ω
coax 线条.
便条 17:
V
TTL
是 decoupled 至 地面 和 0.1
µ
f, v
EE
是 decoupled 至 地面 和 0.01
µ
f 和 v
CC
是 连接 至 地面.
图示 3. ecl-至-ttl 交流 测试 电路

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www.fairchildsemi.com 8 100329 测试电路系统 (ecl-至-ttl) 便条 14: R T = 50 Ω 末端 resistive 加载. 当一个输入或者输出是正在监控用一个 scope, r T 是有提供的用这 scope ’ s 50 Ω 输入阻抗. 当一个输入或者输出是不正在监控, 一个外部 50 Ω 阻抗必须是应用至提供作 r T . 便条 15: 这 ttl 3-状态拉-向上转变是连接至 + 7v 仅有的为 zl 和 lz tests. 便条 16: ttl 和 ecl 强迫信号是 brought 至这 dut 通过 50 Ω coax 线条. 便条 17: V TTL 是 decoupled 至地面和 0.1 µ f, v EE 是 decoupled 至地面和 0.01 µ f 和 v CC 是连接至地面. 图示 3. ecl-至-ttl 交流测试电路

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