飞利浦 半导体 产品 规格
74F1668-位 双向的 普遍的 变换 寄存器
二月. 14, 1991
6
直流 电的 特性
(在 推荐 运行 自由-空气 温度 范围 除非 否则 指出.)
标识
参数 测试 限制 单位
情况
1
最小值 典型值
2
最大值
V
OH
high–level 输出 电压 V
CC
= 最小值, v
IL
=
最大值,
I
OH
= 最大值
±
10%V
CC
2.5 V
V
IH
= 最小值
±
5%V
CC
2.7 3.4 V
V
OL
low–level 输出 电压
V
CC
= 最小值, v
IL
=
最大值,
I
OL
= 最大值
±
10%V
CC
0.30 0.50 V
V
IH
= 最小值
±
5%V
CC
0.30 0.50 V
V
IK
输入 clamp 电压 V
CC
= 最小值, i
I
= i
IK
-0.73 -1.2 V
I
I
输入 电流 在 最大 其他 V
CC
= 0.0v, v
I
= 7.0v 100
µ
一个
输入 电压 CE, cp
3
其他 20
µ
一个
I
IH
high–level 输入 MR, ds V
CC
= 最大值, v
I
= 2.7v 40
µ
一个
电流 工业的 其他 40
µ
一个
仅有的 MR, ds 80
µ
一个
I
IL
low–level 输入 电流 其他 V
CC
= 最大值, v
I
= 0.5v -20
µ
一个
MR, ds -40
µ
一个
I
OS
short–circuit 输出 电流
4
V
CC
= 最大值 -60 -150 毫安
I
CC
供应 电流 (总的)
V
CC
= 最大值, pe= ce= dn = 地,
mr = ds = 4.5v, cp =
↑
50 70 毫安
注释 至 直流 电的 特性
1. 为 情况 显示 作 最小值 或者 最大值, 使用 这 适合的 值 指定 下面 推荐 运行 情况 为 这 适用 类型.
2. 所有 典型 值 是 在 v
CC
= 5v, t
amb
= 25
°
c.
3. 当 测试 cp, ce
必须 仍然是 在 高 状态, whereas cp 必须 仍然是 在 高 状态 当 测试 ce.
4. 不 更多 比 一个 输出 应当 是 短接 在 一个 时间. 为 测试 i
OS
, 这 使用 的 高-速 测试 apparatus 和/或者 样本-和-支撑
技巧 是 preferable 在 顺序 至 降低 内部的 加热 和 更多 准确地 反映 运算的 值. 否则, prolonged shorting
的 一个 高 输出 将 raise 这 碎片 温度 好 在之上 正常的 和 因此 导致 invalid readings 在 其它 参数 tests. 在 任何
sequence 的 参数 tests, i
OS
tests 应当 是 执行 last.
交流 电的 特性
限制
T
amb
= +25
°
C T
amb
= 0
°
c 至
+70
°
C
T
amb
= –40
°
c 至 +85
°
C
标识 参数 测试 V
CC
= +5.0v
V
CC
= +5.0v
±
10% V
CC
= +5.0v
±
10%
单位
情况 C
L
= 50pf,
R
L
= 500
Ω
C
L
= 50pf,
R
L
= 500
Ω
C
L
= 50pf,
R
L
= 500
Ω
最小值 典型值 最大值 最小值 最大值 最小值 最大值
f
最大值
最大 时钟 频率 波形 1 135 175 110 100 ns
t
PLH
t
PHL
传播 延迟
cp 至 q7
波形 1
5.0
4.0
7.5
6.0
10.0
8.0
5.0
3.5
12.0
9.0
5.0
3.5
13.0
9.0
ns
t
PHL
传播 延迟
MR
至 q7
波形 2 4.0 6.5 8.5 4.0 9.5 4.0 9.5 ns
: 点此下载
