ADG719BRM_集成电路资料查询网

–6–
rev. 一个
ADG719
I
DS
V1
SD
V
S
R
在
= v1/I
DS
测试 电路 1. 在 阻抗
测试 电路
SD
V
S
一个 一个
V
D
I
S
(止) I
D
(止)
测试 电路 2. 止 泄漏
SD
V
S
一个
V
D
I
D
(在)
测试 电路 3. 在 泄漏
0.1

F
V
DD
V
S
在
SD
V
DD
地
R
L
300

C
L
35pF
V
输出
50% 50%
90%
90%
V
在
V
输出
t
在
t
止
测试 电路 4. 切换 时间
0.1

F
V
DD
V
S1
在
S1
D
V
DD
地
R
L2
300

C
L2
35pF
V
输出
S2
V
S2
D2
V
在
50% 50%
V
在
V
输出
t
D
t
D
50% 50%
0V
0V
测试 电路 5. 破裂-在之前-制造 时间 延迟, t
D
S2
S1
0.1

F
V
DD
在
D
V
DD
地
R
L
50

V
输出
V
在
V
S
测试 电路 6. 止 分开
V
输出
频道-至-频道
串扰 = 20

log |v
S
/v
输出
|
S2
S1
0.1

F
V
DD
在
D
V
DD
地
R
L
50

V
S
测试 电路 7. 频道-至-频道
串扰
S2
S1
0.1

F
V
DD
在
D
V
DD
地
R
L
50

V
输出
V
在
V
S
测试 电路 8. 带宽
V
DD
= +5v
频率 – hz
0
10M10k
在 回馈 – db
–4
–2
100k 1M 100M
–6
图示 7. 在 回馈 vs. 频率

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–6– rev. 一个 ADG719 I DS V1 SD V S R 在 = v1/I DS 测试电路 1. 在阻抗测试电路 SD V S 一个一个 V D I S (止) I D (止) 测试电路 2. 止泄漏 SD V S 一个 V D I D (在) 测试电路 3. 在泄漏 0.1  F V DD V S 在 SD V DD 地 R L 300  C L 35pF V 输出 50% 50% 90% 90% V 在 V 输出 t 在 t 止测试电路 4. 切换时间 0.1  F V DD V S1 在 S1 D V DD 地 R L2 300  C L2 35pF V 输出 S2 V S2 D2 V 在 50% 50% V 在 V 输出 t D t D 50% 50% 0V 0V 测试电路 5. 破裂-在之前-制造时间延迟, t D S2 S1 0.1  F V DD 在 D V DD 地 R L 50  V 输出 V 在 V S 测试电路 6. 止分开 V 输出频道-至-频道串扰 = 20  log \|v S /v 输出 \| S2 S1 0.1  F V DD 在 D V DD 地 R L 50  V S 测试电路 7. 频道-至-频道串扰 S2 S1 0.1  F V DD 在 D V DD 地 R L 50  V 输出 V 在 V S 测试电路 8. 带宽 V DD = +5v 频率 – hz 0 10M10k 在回馈 – db –4 –2 100k 1M 100M –6 图示 7. 在回馈 vs. 频率

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