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adg608/adg609
rev. 一个
–9–
A2
V
输出
V
SS
V
DD
D
V
S
* 类似的 连接 为 adg609
A1
A0
EN
地
ADG608
*
S1
S8
s2 thru s7
V
在
+2.4v
50
Ω
R
L
300
Ω
C
L
35pF
V
SS
V
DD
地址
驱动 (v
在
)
3V
V
输出
t
打开
80%
80%
0V
测试 电路 6. 破裂-在之前-制造 延迟, t
打开
3V
50%
输出
0.9v
0
50%
t
在
(en)
0.9v
0
0V
V
0
0V
t
止
(en)
使能
驱动 (v
在
)
A2
V
输出
V
SS
V
DD
D
V
S
* 类似的 连接 为 adg609
A1
A0
EN
地
ADG608
*
S1
s2 thru s8
V
在
50
Ω
R
L
300
Ω
C
L
35pF
V
SS
V
DD
测试 电路 7. 使能 延迟, t
在
(en), t
止
(en)
∆
V
输出
3V
V
输出
逻辑
输入 (v
在
)
Q
INJ
= c
L
x
∆
V
输出
0V
A2
V
输出
V
SS
V
DD
D
* 类似的 连接 为 adg609
A1
A0
EN
地
ADG608
*
V
在
C
L
1nF
V
SS
V
DD
S
R
S
V
S
测试 电路 8. 承担 injection

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adg608/adg609 rev. 一个 –9– A2 V 输出 V SS V DD D V S * 类似的连接为 adg609 A1 A0 EN 地 ADG608 * S1 S8 s2 thru s7 V 在 +2.4v 50 Ω R L 300 Ω C L 35pF V SS V DD 地址驱动 (v 在 ) 3V V 输出 t 打开 80% 80% 0V 测试电路 6. 破裂-在之前-制造延迟, t 打开 3V 50% 输出 0.9v 0 50% t 在 (en) 0.9v 0 0V V 0 0V t 止 (en) 使能驱动 (v 在 ) A2 V 输出 V SS V DD D V S * 类似的连接为 adg609 A1 A0 EN 地 ADG608 * S1 s2 thru s8 V 在 50 Ω R L 300 Ω C L 35pF V SS V DD 测试电路 7. 使能延迟, t 在 (en), t 止 (en) ∆ V 输出 3V V 输出逻辑输入 (v 在 ) Q INJ = c L x ∆ V 输出 0V A2 V 输出 V SS V DD D * 类似的连接为 adg609 A1 A0 EN 地 ADG608 * V 在 C L 1nF V SS V DD S R S V S 测试电路 8. 承担 injection

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