ADG706BRU_集成电路资料查询网

adg706/adg707
–9–rev. 0
S
D
V1
V
S
I
DS
R
在
= v
1
/v
DS
测试 电路 1. 在 阻抗
S1
D
V
S
V
DD
V
SS
V
D
S2
S16
地
0.8v
EN
V
DD
V
SS
一个
I
S
止
测试 电路 2. I
S
(止)
测试 电路
S1
D
V
DD
V
SS
V
S
S2
S16
地
0.8v
EN
V
DD
V
SS
一个
I
D
止
V
DD
测试 电路 3. I
D
(止)
D
V
DD
V
SS
V
S
S1
S16
地
2.4v
EN
V
DD
V
SS
一个
I
D
在
V
D
测试 电路 4. I
D
(在)
S1
D
V
在
V
DD
V
SS
地
D
V
DD
V
SS
EN
A0
A1
A2
A3
50

V
S1
S16
V
S16
V
输出
R
L
300

C
L
35pF
ADG706*
s1 thru s15
*similar 连接 为 adg707
2.4v
V
S1
V
S16
0V
3V
V
输出
地址
驱动 (v
在
)
t
转变
t
转变
50%
50%
90%
90%
测试 电路 5. 切换 时间 的 多路调制器, t
转变
S1
D
V
在
V
DD
V
SS
地
D
V
DD
V
SS
EN
A0
A1
A2
A3
50

V
S
S16
V
输出
R
L
300

C
L
35pF
ADG706*
s1 thru s15
*similar 连接 为 adg707
2.4v
地址
驱动 (v
在
)
V
输出
3V
0V
V
S
80% 80%
t
打开
测试 电路 6. 破裂-在之前-制造 延迟, t
打开

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adg706/adg707 –9–rev. 0 S D V1 V S I DS R 在 = v 1 /v DS 测试电路 1. 在阻抗 S1 D V S V DD V SS V D S2 S16 地 0.8v EN V DD V SS 一个 I S 止测试电路 2. I S (止) 测试电路 S1 D V DD V SS V S S2 S16 地 0.8v EN V DD V SS 一个 I D 止 V DD 测试电路 3. I D (止) D V DD V SS V S S1 S16 地 2.4v EN V DD V SS 一个 I D 在 V D 测试电路 4. I D (在) S1 D V 在 V DD V SS 地 D V DD V SS EN A0 A1 A2 A3 50  V S1 S16 V S16 V 输出 R L 300  C L 35pF ADG706* s1 thru s15 similar 连接为 adg707 2.4v V S1 V S16 0V 3V V 输出地址驱动 (v 在 ) t 转变 t 转变 50% 50% 90% 90% 测试电路 5. 切换时间的多路调制器, t 转变 S1 D V 在 V DD V SS 地 D V DD V SS EN A0 A1 A2 A3 50  V S S16 V 输出 R L 300  C L 35pF ADG706 s1 thru s15 *similar 连接为 adg707 2.4v 地址驱动 (v 在 ) V 输出 3V 0V V S 80% 80% t 打开测试电路 6. 破裂-在之前-制造延迟, t 打开

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