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飞利浦 半导体 产品 规格
74ABT125四方形 缓存区 (3-状态)
1998 jan 16
5
交流 波形
V
M
= 1.5v, v
在
= 地 至 3.0v
输入
1.5v
输出
t
PLH
t
PHL
SA00028
1.5v
1.5v 1.5v
3 v
0 v
V
OH
V
OL
波形 1. 波形 表明 这 输入 (一个) 至
输出 (yn) 传播 延迟
OE输入
V
M
V
M
t
PZH
t
PHZ
yn 输出
V
OH
V
M
V
M
yn 输出
V
OL
t
PZL
t
PLZ
3.5v
0V
V
OL
+ 0.3v
V
OH
– 0.3v
SA00029
波形 2. 波形 表明 这 3-状态
输出 使能 和 使不能运转 时间
测试 电路 和 波形
C
L
= 50 pf
500
Ω
加载 电路
定义
C
L
= 加载 电容 包含 jig 和 探查 电容;
看 交流 特性 为 值.
测试 S1
t
pd
打开
t
PLZ
/t
PZL
7 v
t
PHZ
/t
PZH
打开
SA00012
500
Ω
从 输出
下面 测试
S1
7 v
打开
地

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飞利浦半导体产品规格 74ABT125四方形缓存区 (3-状态) 1998 jan 16 5 交流波形 V M = 1.5v, v 在 = 地至 3.0v 输入 1.5v 输出 t PLH t PHL SA00028 1.5v 1.5v 1.5v 3 v 0 v V OH V OL 波形 1. 波形表明这输入 (一个) 至输出 (yn) 传播延迟 OE输入 V M V M t PZH t PHZ yn 输出 V OH V M V M yn 输出 V OL t PZL t PLZ 3.5v 0V V OL + 0.3v V OH – 0.3v SA00029 波形 2. 波形表明这 3-状态输出使能和使不能运转时间测试电路和波形 C L = 50 pf 500 Ω 加载电路定义 C L = 加载电容包含 jig 和探查电容; 看交流特性为值. 测试 S1 t pd 打开 t PLZ /t PZL 7 v t PHZ /t PZH 打开 SA00012 500 Ω 从输出下面测试 S1 7 v 打开地

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