飞利浦 半导体 产品 规格
74f125, 74f126四方形 缓存区 (3-状态)
march 28, 1989
4
推荐 运行 情况
标识 参数
限制
UNITSYMBOL 参数
最小值 NOM 最大值
单位
V
CC
供应 电压 4.5 5.0 5.5 V
V
IH
高-水平的 输入 电压 2.0 V
V
IL
低-水平的 输入 电压 0.8 V
I
IK
输入 clamp 电流 –18 毫安
I
OH
高-水平的 输出 电流 –15 毫安
I
OL
低-水平的 输出 电流 64 毫安
T
amb
运行 自由 空气 温度 范围 0 +70
°
C
直流 电的 特性
(在 推荐 运行 自由-空气 温度 范围 除非 否则 指出.)
标识 参数 测试 情况
1
限制
UNITSYMBOL 参数 测试情况
1
最小值 典型值
2
最大值
单位
I
O
= 3mA
±
10%V
CC
2.4 V
V
O
高 水平的 输出 电压
V
CC
= 最小值,
V
IL
= 最大值
I
OH
=–3mA
±
5%V
CC
2.7 3.3 V
V
OH
高-水平的 输出voltage
V
IL
=最大值,
V
IH
= 最小值
I
O
= 15mA
±
10%V
CC
2.0 V
I
OH
=–15mA
±
5%V
CC
2.0 V
V
O
低 水平的 输出 电压
V
CC
= 最小值,
V
IL
= 最大值
I
O
= 最大值
±
10%V
CC
0.55 V
V
OL
低-水平的 输出voltage
V
IL
=最大值,
V
IH
= 最小值
I
OH
= 最大值
±
5%V
CC
0.42 0.55 V
V
IK
输入 clamp 电压 V
CC
= 最小值, i
I
= i
IK
–0.73 –1.2 V
I
I
输入 电流 在 最大 输入 电压 V
CC
= 0.0v, v
I
= 7.0v 100
µ
一个
I
IH
高-水平的 输入 电流 V
CC
= 最大值, v
I
= 2.7v 20
µ
一个
I
IL
低-水平的 输入 电流 V
CC
= 最大值, v
I
= 0.5v –20
µ
一个
I
OZH
止-状态 输出 电流,
高-水平的 电压 应用
V
CC
= 最大值, v
O
= 2.7v 50
µ
一个
I
OZL
止-状态 输出 电流,
低-水平的 电压 应用
V
CC
= 最大值, v
O
= 0.5v –50
µ
一个
I
OS
短的 电路 输出 电流
3
V
CC
= 最大值 –100 –225 毫安
I
CCH
OEn = 地, dn = 4.5v 17 24 毫安
74F125
I
CCL
V
CC
= 最大值
OEn = dn = 地 28 40 毫安
I
CC
供应 电流 (总的)
I
CCZ
OEn = dn = 4.5v 25 35 毫安
I
CC
供应 电流 (总的)
I
CCH
oen = dn = 4.5v 20 30 毫安
74F126
I
CCL
V
CC
= 最大值
oen = 4.5v, dn = 地 32 48 毫安
I
CCZ
oen = 地, dn = 4.5v 26 39 毫安
注释:
1. 为 情况 显示 作 最小值 或者 最大值, 使用 这 适合的 值 指定 下面 推荐 运行 情况 为 这 适用 类型.
2. 所有 典型 值 是 在 v
CC
= 5v, t
amb
= 25
°
c.
3. 不 更多 比 一个 输出 应当 是 短接 在 一个 时间. 为 测试 i
OS
, 这 使用 的 高-速 测试 apparatus 和/或者 样本-和-支撑
技巧 是 preferable 在 顺序 至 降低 内部的 加热 和 更多 准确地 反映 运算的 值. 否则, prolonged shorting
的 一个 高 输出 将 raise 这 碎片 温度 好 在之上 正常的 和 因此 导致 invalid readings 在 其它 参数 tests. 在 任何
sequence 的 参数 tests, i
OS
tests 应当 是 执行 last.
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