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资料编号:997733
 
资料名称:JANTXV2N5660
 
文件大小: 65K
   
说明
 
介绍:
NPN POWER SILICON TRANSISTOR
 
 


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本平台电子爱好着纯手工中文简译:截至2020/5/17日,支持英文词汇500个
mil-prf-19500/454d
9
4.4 conformance inspection. conformance inspection 将要 是 在 一致 和 mil-prf-19500, 和 作
指定 在此处.
4.4.1 组 一个 inspection. 组 一个 inspection 将要 是 安排 在 一致 和 mil-prf-19500, 和 表格 i
在此处. 电的 度量 (终止-点) 将要 是 在 一致 和 这 适用 inspections 的 表格 i, 组
一个, subgroup 2 在此处.
4.4.2 组 b inspection. 组 b inspection 将要 是 安排 在 一致 和 这 情况 指定
在下. 电的 度量 (终止-点) 和 delta (所需的)东西 jan, jantx, 和 jantxv 将要 是 之后 各自
步伐 和 将要 是 在 一致 和 组 一个, subgroup 2 和 表格 iii 在此处. 独立的 样本 将 是 使用 为
各自 步伐. 在 这 事件 的 一个 组 b 失败, 这 生产者 将 拉 一个 新 样本 在 翻倍 大小 从 也 这
failed 组装 lot 或者 从 另一 组装 lot 从 这 一样 薄脆饼 lot. 如果 这 新 “assembly lot” 选项 是
exercised, 这 failed 组装 lot 将要 是 scrapped.
4.4.2.1 组 b inspection 在此处, (jan, jantx, 和 jantxv).
步伐 方法 情况
1 1039 稳步的-状态 生命: 测试 情况 b, 340 小时, v
CE
= 10 百分比 的 陈述
V
CEO
(看 1.3), t
J
= 175
°
c 最小值 非 热温 下沉 或者 强迫-空气 冷却 在 这
设备 将要 是 permitted. n = 45 设备, c = 0
2 1039 这 稳步的-状态 生命 测试 的 步伐 1 将要 是 扩展 至 1,000 小时 为
各自 消逝 设计. 样本 将要 是 选择 从 一个 薄脆饼 lot 每 twelve
months 的 薄脆饼 生产, 不管怎样, 组 b 将要 不 是 必需的 更多
比 once 为 任何 单独的 薄脆饼 lot. n = 45, c = 0.
3 1032 高-温度 生命 (非-运行), t
一个
= +200
°
c. n = 22, c = 0.
4.4.2.2 组 b 样本 选择. 样本 选择 从 组 b inspection 将要 满足 所有 的 这 下列的
(所需的)东西:
一个. 为 jan, jantx, 和 jantxv 样本 将要 是 选择 randomly 从 一个 最小 的 三 wafers
(或者 从 各自 薄脆饼 在 这 lot) 从 各自 薄脆饼 lot. 看 mil-prf-19500.
b. 必须 是 选择 从 一个 inspection lot 那 有 被 submitted 至 和 passed 组 一个, subgroup 2,
conformance inspection. 当 这 最终 含铅的 完成 是 焊盘 或者 任何 镀层 prone 至 oxidation 在 高
温度, 这 样本 为 生命 测试 (组 b 为 jan, jantx, 和 jantxv) 将 是 牵引的 较早的 至
这 应用 的 最终 含铅的 完成.
4.4.3 组 c inspection, 组 c inspection 将要 是 安排 在 一致 和 这 情况 指定 为
subgroup 测试 在 表格 vii 的 mil-prf-19500, 4.4.3.1 (jan, jantx, 和 jantxv) 在此处 为 组 c testing.
电的 度量 (终止 点) 和 delta (所需的)东西 将要 是 在 一致 和 组 一个, subgroup 2 和
表格 iii 在此处.
4.4.3.1 组 c inspection, 表格 vii (jan, jantx, 和 jantxv) 的 mil-prf-19500.
Subgroup 方法 情况
C2 2036 测试 情况 一个 (tension) 为 2n5660 和 2n5661; 重量 = 3 pounds; t =
15s.
C2 2036 测试 情况 e (含铅的 fatigue) 为 2n5662 和 2n5663.
C6 不 适用.
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