ATF1502AS
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jtag-bst/isp overview
这 jtag boundary-scan 测试 是 控制 用 这 测试
进入 端口 (tap) 控制 在 这 atf1502as. 这
boundary-scan 技巧 involves 这 包括 的 一个 变换-
寄存器 平台 (包含 在 一个 boundary-scan cell) 调整
至 各自 组件 所以 那 信号 在 组件 bound-
aries 能 是 控制 和 observed 使用 scan 测试
方法. 各自 输入 管脚 和 i/o 管脚 有 它的 自己的 boundary
scan cell (bsc) 至 支持 boundary scan 测试. 这
atf1502as 做 不 包含 一个 测试 重置 (trst) 输入
管脚 因为 这 tap 控制 是 automatically 重置 在
电源 向上. 这 five jtag 模式 supported 包含: sam-
ple/preload, extest, 绕过, idcode 和 highz.
这 atf1502as’s isp 能 是 全部地 描述 使用 jtag’s
bsdl 作 描述 在 ieee 标准 1149.1b. 这个 准许
atf1502as 程序编制 至 是 描述 和 imple-
mented 使用 任何 一个 的 这 3rd 群 开发 tools
支承的 这个 标准.
这 atf1502as 有 这 选项 的 使用 四 jtag-stan-
dard i/o 管脚 为 boundary scan 测试 (bst) 和 在-sys-
tem 程序编制 (isp) 目的. 这 atf1502as 是
可编程序的 通过 这 四 jtag 管脚 使用 这 ieee
标准 jtag 程序编制 协议 established 用 ieee
标准 1149.1 使用 5v ttl-水平的 程序编制 信号
从 这 isp 接口 为 在-系统 程序编制. 这
jtag 特性 是 一个 可编程序的 选项. 如果 jtag (bst 或者
isp) 是 不 需要, 然后 这 四 jtag 控制 管脚 是
有 作 i/o 管脚.
jtag boundary scan cell (bsc)
Testing
这 atf1502as 包含 向上 至 32 i/o 管脚 和 4 输入
管脚, 取决于 在 这 和 包装 类型 选择. 各自
输入 管脚 和 i/o 管脚 有 它的 自己的 boundary scan cell (bsc)
在 顺序 至 支持 boundary scan 测试 作 描述 在
detail 用 ieee 标准 1149.1. 典型 bsc 组成 的
三 俘获 寄存器 或者 scan 寄存器 和 向上 至 二
更新 寄存器. 那里 是 二 类型 的 bscs, 一个 为
输入 或者 i/o 管脚, 和 一个 为 这 macrocells. 这 bscs 在
这 设备 是 chained 一起 通过 这 俘获 regis-
ters. 输入 至 这 俘获 寄存器 chain 是 喂养 在 从 这
tdi 管脚 当 这 输出 是 directed 至 这 tdo 管脚. 俘获
寄存器 是 使用 至 俘获 起作用的 设备 数据 信号, 至
变换 数据 在 和 输出 的 这 设备 和 至 加载 数据 在 这
更新 寄存器. 控制 信号 是 发生 内部
用 这 jtag tap 控制. 这 bsc 配置 为 这
输入 和 i/o 管脚 和 macrocells 是 显示 在下.
bsc 配置 为 输入 和 i/o
管脚 (除了 jtag tap 管脚)
便条: 这 atf1502as 有 拉-向上 选项 在 tms 和 tdi
管脚. 这个 特性 是 选择 作 一个 设计 选项.
直流 和 交流 运行 情况
商业的 工业的
运行 温度 (情况) 0
°
c - 70
°
c-40
°
c - 85
°
C
V
CCINT
或者 v
CCIO
(5v) 电源
供应
5V
±
5% 5V
±
10%
V
CCIO
(3.3v) 电源 供应 3.0v - 3.6v 3.0v - 3.6v
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