飞利浦 半导体 产品 规格
74LV4066四方形 bilateral switches
1998 六月 23
7
地
2R
L
2R
L
V
CC
V
CC
地
V
CC
nE
ny/nz nz/ny
2R
L
2R
L
C
L
oscilloscope
DUT
SV01681
图示 8. 测试 电路 为 测量
串扰 在 控制 和 任何 转变.
便条 至 图示 8:
这 串扰 是 定义 作 跟随 (oscilloscope 输出):
V
(p–p)
SV01680
地
2R
L
V
CC
频道
在
V
是
Vos
sine–wave
0.1
F
ny/nz nz/ny
2R
L
C
L
dB
SV01682
图示 9. 测试 电路 为 测量
最小 频率 回馈.
便条 至 图示 9:
调整 输入 电压 至 获得 0 dbm 在 v
OS
当 f
在
= 1 mhz. 之后
设置-向上 频率 的 f
在
是 增加 至 获得 一个 读 的 –3 db 在 v
os.
地
2R
L
V
CC
频道
在
V
是
V
os
f
在
= 1 khz
sine–wave
10
F
ny/nz nz/ny
2R
L
C
L
扭曲量
计量表
SV01683
图示 10. 测试 电路 为 测量 sine-波 扭曲量.
地
2R
L
V
CC
频道
止
V
是
V
os
0.1
F
ny/nz
nz/ny
2R
L
C
L
dB
SV01684
图示 11. 测试 电路 为 测量
转变 “off” 信号 喂养-通过.