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测试 电路 和 波形
图示 1a. dg408 测试 电路 图示 1b. dg409 测试 电路
图示 1c. 度量 点
图示 1. 转变 时间
图示 2a. dg408 测试 电路 图示 2b. dg409 测试 电路
图示 2c. 度量 点
图示 2. 使能 切换 时间
EN
一个
0
DG408
地
一个
1
一个
2
S
1
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2
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7
S
8
D
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V+
10V
±
10V
转变
输出
V
O
35pF300
Ω
50
Ω
+15V
+2.4v
-
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逻辑
输入
±
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S
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V+
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逻辑
输入
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输出
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输出
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一个
0
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1
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S
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6 测试电路和波形图示 1a. dg408 测试电路图示 1b. dg409 测试电路图示 1c. 度量点图示 1. 转变时间图示 2a. dg408 测试电路图示 2b. dg409 测试电路图示 2c. 度量点图示 2. 使能切换时间 EN 一个 0 DG408 地一个 1 一个 2 S 1 S 2 - s 7 S 8 D v- V+ 10V ± 10V 转变输出 V O 35pF300 Ω 50 Ω +15V +2.4v - 15V 逻辑输入 ± EN DG409 地一个 0 一个 1 S 1B S 1A - s 4A, D 一个 S 4B D B v- V+ 10V ± 10V 转变输出 V O 35pF300 Ω 50 Ω +15V +2.4v - 15V 逻辑输入 ± 逻辑输入转变输出 V O 3V V S1 S 1 在 50% t r < 20ns t f < 20ns t TRANS 50% 0V 0V V S8 t TRANS S 8 在 0.8 v S8 0.8 v S1 EN 一个 0 DG408 地一个 1 一个 2 S 1 S 2 - s 8 D v- V+ - 5V 转变输出 V O 35pF300 Ω 50 Ω +15V - 15V 逻辑输入 V 在 EN 一个 0 DG409 地一个 1 S 1B S 1A - s 4A D B v- V+ - 5V 转变输出 V o 35pF300 Ω 50 Ω +15V - 15V 逻辑输入 S 2b - S 4B, D 一个 V 在逻辑输入转变输出 V O 3V V O 50% t r < 20ns t f < 20ns t 在(en) 0V 50% t 止(en) 0.9 v O 0V V 在 dg408, dg409

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