DG409DY-T_集成电路资料查询网

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图示 3a. 测试 电路 图示 3b. 度量 点
图示 3. 破裂-在之前-制造 间隔
图示 4a. 测试 电路 图示 4b. 度量 点
图示 4. 承担 injection
图示 5. 止 分开 图示 6. 串扰
测试 电路 和 波形
(持续)
EN
一个
0
DG408
地
一个
1
一个
2
所有 s 和 d
一个
d, d
B
v-
V+
+5v (v
S
)
转变
输出
V
O
35pF300
Ω
50
Ω
+15V
+2.4v
-
15V
逻辑
输入
DG409
逻辑
输入
转变
输出
V
O
3V
V
S
80%
t
r
< 20ns
t
f
< 20ns
t
打开
0V
0V
80%
S
X
一个
0
地
一个
1
EN
D
V
-
V+
V
O
C
L
+15V
-
15V
一个
2
10nF
V
GEN
频道
选择
R
GEN
逻辑 输入
逻辑
输入
转变
输出
∆
V
O
3V
在
止
0V
∆
V
O
是 这 量过的 电压 预定的
至 承担 转移 错误, q
q = c
L
x
∆
V
O
S
X
一个
2
地
一个
1
EN
D
V
-
V+
V
O
+15V
-
15V
一个
0
信号
发生器
V
在
0V
1k
Ω
分析器
|
|
S
8
止 分开 20 Log
V
输出
V
在
-----------------=
S
X
一个
2
地
一个
1
EN
D
V
-
V+
V
O
+15V
-
15V
一个
0
信号
发生器
V
在
5V
1k
Ω
分析器
|
|
S
8
串扰 20 Log
V
输出
V
在
-----------------=
S
1
1k
Ω
dg408, dg409

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7 图示 3a. 测试电路图示 3b. 度量点图示 3. 破裂-在之前-制造间隔图示 4a. 测试电路图示 4b. 度量点图示 4. 承担 injection 图示 5. 止分开图示 6. 串扰测试电路和波形 (持续) EN 一个 0 DG408 地一个 1 一个 2 所有 s 和 d 一个 d, d B v- V+ +5v (v S ) 转变输出 V O 35pF300 Ω 50 Ω +15V +2.4v - 15V 逻辑输入 DG409 逻辑输入转变输出 V O 3V V S 80% t r < 20ns t f < 20ns t 打开 0V 0V 80% S X 一个 0 地一个 1 EN D V - V+ V O C L +15V - 15V 一个 2 10nF V GEN 频道选择 R GEN 逻辑输入逻辑输入转变输出 ∆ V O 3V 在止 0V ∆ V O 是这量过的电压预定的至承担转移错误, q q = c L x ∆ V O S X 一个 2 地一个 1 EN D V - V+ V O +15V - 15V 一个 0 信号发生器 V 在 0V 1k Ω 分析器 \| \| S 8 止分开 20 Log V 输出 V 在 -----------------= S X 一个 2 地一个 1 EN D V - V+ V O +15V - 15V 一个 0 信号发生器 V 在 5V 1k Ω 分析器 \| \| S 8 串扰 20 Log V 输出 V 在 -----------------= S 1 1k Ω dg408, dg409

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