飞利浦 半导体 产品 数据
PCA9504Aglue 碎片 4
2004 将 11
9
标识 单位
限制
测试 conditionparameter
标识 单位T
amb
= 0
°
c 至 +70
°
C测试 conditionparameter
标识 单位
MAXTYPMIN
测试 conditionparameter
a20m / gp1_inb
V
IH
高-水平的 输入 电压 完全齐平 模式 1.5 V
V
IL
低-水平的 输入 电压 完全齐平 模式 0.4 V
I
IL
输入 泄漏 完全齐平 模式 –1 1
µ
一个
vccp_v
ref
偏差 电压 完全齐平 模式 0.95 1.1 V
V
IH
高-水平的 输入 电压 gp 模式 2.4 V
V
IL
低-水平的 输入 电压 gp 模式 0.8 V
I
L
输入 泄漏 gp 模式 –1 1
µ
一个
vccp_v
ref
偏差 电压 gp 模式 1.95 2.1 V
clk_在
V
IH
高-水平的 输入 电压 2.2 V
V
IL
低-水平的 输入 电压 0.8 V
Hys 输入 hysteresis 250 mV
I
L
输入 泄漏 –1 1
µ
一个
sel_33_66
V
IH
高-水平的 输入 电压 2.0 V
V
IL
低-水平的 输入 电压 0.8 V
Hys 输入 hysteresis 400 mV
I
IH
输入 泄漏 –1 1
µ
一个
I
IL
输入 泄漏 V
IL
= 0 v –88 –26
µ
一个
slp_s3
V
IH
高-水平的 输入 电压 2.2 V
V
IL
低-水平的 输入 电压 0.8 V
Hys 输入 hysteresis 400 mV
I
L
输入 泄漏 –1 1
µ
一个
slp_s5
V
IH
高-水平的 输入 电压 2.2 V
V
IL
低-水平的 输入 电压 0.8 V
Hys 输入 hysteresis 400 mV
I
L
输入 泄漏 –1 1
µ
一个
cpu_呈现
V
IH
高-水平的 输入 电压 2.0 V
V
IL
低-水平的 输入 电压 0.8 V
Hys 输入 hysteresis 400 mV
I
IH
输入 泄漏 V
IH
= 3vsb –1 1
µ
一个
I
IL
输入 泄漏 V
IL
= 0 v –88 –26
µ
一个
测试_en
V
IH
高-水平的 输入 电压 0.7*5vsb V
V
IL
低-水平的 输入 电压 0.2*5vsb V
Hys 输入 hysteresis 400 mV
I
IH
输入 泄漏 V
IL
= 0 v –1 1
µ
一个
I
IL
输入 泄漏 V
IH
= 5vsb 20 88
µ
一个