飞利浦 半导体 产品 数据
PCA9504Aglue 碎片 4
2004 将 11
8
标识 单位
限制
测试 conditionparameter
标识 单位T
amb
= 0
°
c 至 +70
°
C测试 conditionparameter
标识 单位
MAXTYPMIN
测试 conditionparameter
I
IH
输入 泄漏 高 V
IH
= 5vsb –1 1
µ
一个
SCSI
V
IH
高-水平的 输入 电压 0.7*5vsb V
V
IL
低-水平的 输入 电压 0.2*5vsb V
Hys 输入 hysteresis 400 mV
I
IL
输入 泄漏 低 V
IL
= 0 v –88 –26
µ
一个
I
IH
输入 泄漏 高 V
IH
= 5vsb –1 1
µ
一个
FPRST
V
IH
高-水平的 输入 电压 0.7*5vsb V
V
IL
低-水平的 输入 电压 0.2*5vsb V
Hys 输入 hysteresis 400 mV
I
IL
输入 泄漏 低 V
IL
= 0 v –88 –26
µ
一个
I
IH
输入 泄漏 高 V
IH
= 5vsb –1 1
µ
一个
pwrgd_ps
V
IH
高-水平的 输入 电压 0.7*5vsb V
V
IL
低-水平的 输入 电压 0.2*5vsb V
Hys 输入 hysteresis 400 mV
I
IL
输入 泄漏 低 V
IL
= 0 v –88 –26
µ
一个
I
IH
输入 泄漏 高 V
IH
= 5vsb –1 1
µ
一个
gpo_完全齐平_cache/gp2_在
V
IH
高-水平的 输入 电压 2.2 V
V
IL
低-水平的 输入 电压 0.8 V
I
L
输入 泄漏 V
IL
= 0 v –88 –26
µ
一个
I
IH
输入 泄漏 V
IH
= 5 v –1 1
µ
一个
init / gp1_ina (gp 模式)
V
IH
高-水平的 输入 电压 部分 是 strapped 为 gp
模式
2.4 V
V
IL
低-水平的 输入 电压 部分 是 strapped 为 gp
模式
0.8 V
I
L
输入 泄漏 部分 是 strapped 为 gp
模式
–1 1
µ
一个
vccp_v
ref
偏差 电压 gp 模式 1.95 2.1 V
init / gp1_ina (完全齐平 模式)
V
IH
高-水平的 输入 电压 完全齐平 模式 1.5 V
V
IL
低-水平的 输入 电压 完全齐平 模式 0.4 V
I
IL
输入 泄漏 完全齐平 模式 –1 1
µ
一个
vccp_v
ref
偏差 电压 完全齐平 模式 0.95 1.1 V
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