ADF4118BRU_集成电路资料查询网

adf4116/adf4117/adf4118
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12
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rev. 0
表格 iv. 涉及 计数器 获得 编排
R14
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R13
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R3 R2 R1 分隔 比率
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163 80
163 81
163 82
163 83
测试 模式 位 应当
是 设置 至 0000 为
正常的 运作
运作LDP
3 consecutive 循环 的 阶段 延迟 较少 比
15ns 必须 出现 在之前 锁 发现 是 设置.
5 consecutive 循环 的 阶段 延迟 较少 比
15ns 必须 出现 在之前 锁 发现 是 设置.
0
1
锁
发现
精确
测试
模式 位
DB20 DB19 DB18 DB17 DB16 DB15 DB14 DB13 DB12 DB11 DB9 DB8 DB7 DB6 DB5 DB4 DB3 DB2 DB1 DB0DB10
LDP T4 T3 T2 T1 R14 R13 R12 R11 R10 R8 R7 R6 R5 R4 R3 R2 R1 c2 (0) c1 (0)R9
14-位 涉及 计数器, r
控制
位

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adf4116/adf4117/adf4118 – 12 – rev. 0 表格 iv. 涉及计数器获得编排 R14 0 0 0 0 • • • 1 1 1 1 R13 0 0 0 0 • • • 1 1 1 1 R12 0 0 0 0 • • • 1 1 1 1 R3 R2 R1 分隔比率 •••••••••• •••••••••• •••••••••• •••••••••• •••••••••• •••••••••• •••••••••• •••••••••• •••••••••• •••••••••• •••••••••• •••••••••• 0 0 0 1 • • • 1 1 1 1 0 1 1 0 • • • 0 0 1 1 1 0 1 0 • • • 0 1 0 1 1 2 3 4 • • • 163 80 163 81 163 82 163 83 测试模式位应当是设置至 0000 为正常的运作运作LDP 3 consecutive 循环的阶段延迟较少比 15ns 必须出现在之前锁发现是设置. 5 consecutive 循环的阶段延迟较少比 15ns 必须出现在之前锁发现是设置. 0 1 锁发现精确测试模式位 DB20 DB19 DB18 DB17 DB16 DB15 DB14 DB13 DB12 DB11 DB9 DB8 DB7 DB6 DB5 DB4 DB3 DB2 DB1 DB0DB10 LDP T4 T3 T2 T1 R14 R13 R12 R11 R10 R8 R7 R6 R5 R4 R3 R2 R1 c2 (0) c1 (0)R9 14-位涉及计数器, r 控制位

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