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adg451/adg452/adg453
rev. 一个
–9–
V
S
R
在
= v
1
/i
DS
V
1
I
DS
测试 电路 1. 在 阻抗
测试 电路
I
S
(止) I
S
(止)
V
S
V
D
测试 电路 2. 止 泄漏
I
D
(在)
V
S
V
D
测试 电路 3. 在 泄漏
S
D
地
+15V
0.1

F
–15V
0.1

F
+5V
在
V
S
0.1

F
V
SS
V
输出
C
L
35pF
V
在
V
L
V
DD
R
L
300

50%
ADG451
3V
ADG452
V
在
V
在
V
输出
3V
50%
50% 50%
90% 90%
t
止
t
在
测试 电路 4. 切换 时间
地
V
SS
ADG453
–15V
V
在
in1, in2
V
S1
V
S2
S1
S2
V
DD
V
L
0.1

F
+15V
+5V
0.1

F 0.1

F
D1
D2
V
OUT1
V
OUT2
C
L2
35pF
C
L1
35pF
R
L1
300

R
L2
300

50%
90%
V
在
V
OUT1
V
OUT2
50%
90%
90% 90%
t
D
t
D
3V
0V
0V
0V
测试 电路 5. 破裂-在之前-制造 时间 延迟

标　题:
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adg451/adg452/adg453 rev. 一个 –9– V S R 在 = v 1 /i DS V 1 I DS 测试电路 1. 在阻抗测试电路 I S (止) I S (止) V S V D 测试电路 2. 止泄漏 I D (在) V S V D 测试电路 3. 在泄漏 S D 地 +15V 0.1  F –15V 0.1  F +5V 在 V S 0.1  F V SS V 输出 C L 35pF V 在 V L V DD R L 300  50% ADG451 3V ADG452 V 在 V 在 V 输出 3V 50% 50% 50% 90% 90% t 止 t 在测试电路 4. 切换时间地 V SS ADG453 –15V V 在 in1, in2 V S1 V S2 S1 S2 V DD V L 0.1  F +15V +5V 0.1  F 0.1  F D1 D2 V OUT1 V OUT2 C L2 35pF C L1 35pF R L1 300  R L2 300  50% 90% V 在 V OUT1 V OUT2 50% 90% 90% 90% t D t D 3V 0V 0V 0V 测试电路 5. 破裂-在之前-制造时间延迟

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