rev. c
–8–
adg508f/adg509f/adg528f
测试 电路
I
DS
S
R
在
= v
1
/i
DS
V1
V
S
D
测试 电路 1. 在 阻抗
V
S
I
S
(止)
V
D
S1
S2
S8
V
SS
V
DD
V
SS
V
DD
+0.8v
D
EN
一个
测试 电路 2. I
S
(止)
V
D
S1
S2
S8
V
S
V
SS
V
DD
I
D
(止)
V
SS
V
DD
+0.8v
D
EN
一个
测试 电路 3. I
D
(止)
I
D
(在)
V
D
S1
S8
V
S
V
SS
V
DD
V
SS
V
DD
+2.4v
D
EN
一个
S2
测试 电路 4. I
D
(在)
V
D
S1
S2
S8
V
S
V
SS
V
DD
V
SS
V
DD
+0.8v
D
EN
一个
测试 电路 5. 输入 泄漏 电流
(和 超(电)压)
A2
V
S
0V
0V
V
SS
V
DD
D
0V
一个
* 类似的 连接 为 adg508f/adg509f
A1
A0
EN
RS
地
WR
ADG528F
*
S1
S8
测试 电路 6. 输入 泄漏 电流
(和 电源 供应 止)
3V
50%
V
输出
t
转变
90%
90%
t
转变
地址
驱动 (v
在
)
50%
A2
V
输出
V
SS
V
DD
D
V
S1
* 类似的 连接 为 adg508f/adg509f
A1
A0
EN
RS
地
WR
ADG528F
*
S1
S8
S2–S7
V
在
+2.4v
50
V
S8
R
L
1M
C
L
35pF
V
SS
V
DD
测试 电路 7. 切换 时间 的 多路调制器, t
转变