ADG508FBRW_集成电路资料查询网

adg508f/adg509f/adg528f
rev. c
–9–
A2
V
输出
V
SS
V
DD
D
V
S
* 类似的 连接 为 adg508f/adg509f
A1
A0
EN
RS
地
WR
ADG528F
*
S1
S8
S2–S7
V
在
+2.4v
50

R
L
1k

C
L
35pF
V
SS
V
DD
地址
驱动 (v
在
)
3V
V
输出
t
打开
80%
80%
测试 电路 8. 破裂-在之前-制造 延迟, t
打开
3V
50%
输出
0.9v
O
50%
t
在
(en)
0.9v
O
0V
V
O
0V
t
止
(en)
使能
驱动 (v
在
)
A2
V
输出
V
SS
V
DD
D
V
S
* 类似的 连接 为 adg508f/adg509f
A1
A0
RS
地
WR
ADG528F
*
S1
S2–S8
V
在
50

R
L
1k

C
L
35pF
V
SS
V
DD
+2.4v
EN
测试 电路 9. 使能 延迟, t
在
(en), t
止
(en)
3V
输出
WR
0.2v
O
50%
t
在
(
WR
)
0V
V
O
0V
A2
V
输出
V
SS
V
DD
D
V
S
A1
A0
EN
RS
地
ADG528F
S1
S2–S8
+2.4v
R
L
1k

C
L
35pF
V
SS
V
DD
WR
V
WR
V
RS
测试 电路 10. 写 转变-在 时间, t
在
(
WR
)

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adg508f/adg509f/adg528f rev. c –9– A2 V 输出 V SS V DD D V S * 类似的连接为 adg508f/adg509f A1 A0 EN RS 地 WR ADG528F * S1 S8 S2–S7 V 在 +2.4v 50  R L 1k  C L 35pF V SS V DD 地址驱动 (v 在 ) 3V V 输出 t 打开 80% 80% 测试电路 8. 破裂-在之前-制造延迟, t 打开 3V 50% 输出 0.9v O 50% t 在 (en) 0.9v O 0V V O 0V t 止 (en) 使能驱动 (v 在 ) A2 V 输出 V SS V DD D V S * 类似的连接为 adg508f/adg509f A1 A0 RS 地 WR ADG528F * S1 S2–S8 V 在 50  R L 1k  C L 35pF V SS V DD +2.4v EN 测试电路 9. 使能延迟, t 在 (en), t 止 (en) 3V 输出 WR 0.2v O 50% t 在 ( WR ) 0V V O 0V A2 V 输出 V SS V DD D V S A1 A0 EN RS 地 ADG528F S1 S2–S8 +2.4v R L 1k  C L 35pF V SS V DD WR V WR V RS 测试电路 10. 写转变-在时间, t 在 ( WR )

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