adg411/adg412/adg413–specifications
1
双 供应
b 版本 t 版本
–40
c 至 –55
c 至
参数 +25
C +85
C +25
C +125
C 单位 测试 情况/comments
相似物 转变
相似物 信号 范围 V
DD
至 v
SS
V
DD
至 v
SS
V
R
在
25 25
Ω
典型值 V
D
=
±
8.5 v, i
S
= –10 毫安;
35 45 35 45
Ω
最大值 V
DD
= +13.5 v, v
SS
= –13.5 v
泄漏 电流 V
DD
= +16.5 v, v
SS
= –16.5 v
源 止 泄漏 i
S
(止)
±
0.1
±
0.1 na 典型值 V
D
=
±
15.5 v, v
S
=
15.5 v;
±
0.25
±
5
±
0.25
±
20 na 最大值 测试 电路 2
流 止 泄漏 i
D
(止)
±
0.1
±
0.1 na 典型值 V
D
=
±
15.5 v, v
S
=
15.5 v;
±
0.25
±
5
±
0.25
±
20 na 最大值 测试 电路 2
频道 在 泄漏 i
D
, i
S
(在)
±
0.1
±
0.1 na 典型值 V
D
= v
S
=
±
15.5 v;
±
0.4
±
10
±
0.4
±
40 na 最大值 测试 电路 3
数字的 输入
输入 高 电压, v
INH
2.4 2.4 v 最小值
输入 低 电压, v
INL
0.8 0.8 v 最大值
输入 电流
I
INL
或者 i
INH
0.005 0.005
µ
一个 典型值 V
在
= v
INL
或者 v
INH
±
0.5
±
0.5
µ
一个 最大值
动态 特性
2
t
在
110 110 ns 典型值 R
L
= 300
Ω
, c
L
= 35 pf;
175 175 ns 最大值 V
S
=
±
10 v; 测试 电路 4
t
止
100 100 ns 典型值 R
L
= 300
Ω
, c
L
= 35 pf;
145 145 ns 最大值 V
S
=
±
10 v; 测试 电路 4
破裂-在之前-制造 时间 延迟, t
D
25 25 ns 典型值 R
L
= 300
Ω
, c
L
= 35 pf;
(adg413 仅有的) V
S1
= v
S2
= +10 v;
测试 电路 5
承担 injection 5 5 pc 典型值 V
S
= 0 v, r
S
= 0
Ω
, c
L
= 10 nf;
测试 电路 6
止 分开 68 68 db 典型值 R
L
= 50
Ω
, c
L
= 5 pf, f = 1mhz;
测试 电路 7
频道-至-频道 串扰 85 85 db 典型值 R
L
= 50
Ω
, c
L
= 5 pf, f = 1mhz;
测试 电路 8
C
S
(止) 9 9 pf 典型值 f = 1 mhz
C
D
(止) 9 9 pf 典型值 f = 1 mhz
C
D
, c
S
(在) 35 35 pf 典型值 f = 1 mhz
电源 (所需的)东西 V
DD
= +16.5 v, v
SS
= –16.5 v
数字的 输入 = 0 v 或者 5 v
I
DD
0.0001 0.0001
µ
一个 典型值
15 1 5
µ
一个 最大值
I
SS
0.0001 0.0001
µ
一个 典型值
15 1 5
µ
一个 最大值
I
L
0.0001 0.0001
µ
一个 典型值
15 1 5
µ
一个 最大值
注释
1
温度 范围 是 作 跟随: b 版本: –40
°
c 至 +85
°
c; t 版本: –55
°
c 至 +125
°
c.
2
有保证的 用 设计, 不 主题 至 生产 测试.
规格 主题 至 改变 没有 注意.
rev. 一个–2–
(v
DD
= +15 v
10%, v
SS
= –15 v
10%, v
L
= +5 v
10%, 地 = 0 v, 除非 否则 指出)
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