电池 保护 ic 为 单独的-cell 包装
rev.1.9
_00
s-8261 序列
seiko 器械 公司
11
3. 发现 延迟 时间
表格 7
s-8261aag, s-8261aah, s-8261aaj, s-8261aal, s-8261aam, s-8261aan, s-8261aao, s-8261aap,
s-8261aar, s-8261aaz, s-8261abb,s-8261abc, s-8261abe, s-8261abj, s-8261abk, s-8261abm,
s-8261abn, s-8261abo, s-8261abp, s-8261abr, s-8261abs
参数 标识
测试
情况
remark 最小值 典型值 最大值 单位
测试
电路
[delay time]
25 °c
overcharge 发现 延迟 时间 t
CU
9
0.96 1.2 1.4 s 5
overdischarge 发现 延迟 时间 t
DL
9
115 144 173 ms 5
overcurrent 1 发现 延迟 时间 t
lOV1
10
7.2 9 11 ms 5
overcurrent 2 发现 延迟 时间 t
lOV2
10
1.8 2.24 2.7 ms 5
加载 短的-circuiting 发现 延迟
时间
t
短的
10
220 320 380
µ
s
5
[delay time]
−
40 °c 至
+
85 °c
*1
overcharge 发现 延迟 时间 t
CU
9
0.7 1.2 2.0 s 5
overdischarge 发现 延迟 时间 t
DL
9
80 144 245 ms 5
overcurrent 1 发现 延迟 时间 t
lOV1
10
5 9 15 ms 5
overcurrent 2 发现 延迟 时间 t
lOV2
10
1.2 2.24 3.8 ms 5
加载 短的-circuiting 发现 延迟
时间
t
短的
10
150 320 540
µ
s
5
*1.
自从 产品 是 不 screened 在 高 和 低 temperatures, 这 规格 for 这个 温度 范围
是 有保证的 用 设计, 不 测试 在 生产.
表格 8
s-8261aas
参数 标识
测试
情况
remark 最小值 典型值 最大值 单位
测试
电路
[delay time] 25 °c
overcharge 发现 延迟 时间 t
CU
9
0.96 1.2 1.4 s 5
overdischarge 发现 延迟 时间 t
DL
9
115 144 173 ms 5
overcurrent 1 发现 延迟 时间 t
lOV1
10
3.6 4.5 5.4 ms 5
overcurrent 2 发现 延迟 时间 t
lOV2
10
1.8 2.24 2.7 ms 5
加载 短的-circuiting 发现 延迟
时间
t
短的
10
220 320 380
µ
s
5
[delay time]
−
40 °c 至
+
85 °c
*1
overcharge 发现 延迟 时间 t
CU
9
0.7 1.2 2.0 s 5
overdischarge 发现 延迟 时间 t
DL
9
80 144 245 ms 5
overcurrent 1 发现 延迟 时间 t
lOV1
10
2.5 4.5 7.7 ms 5
overcurrent 2 发现 延迟 时间 t
lOV2
10
1.2 2.24 3.8 ms 5
加载 短的-circuiting 发现 延迟
时间
t
短的
10
150 320 540
µ
s
5
*1.
自从 产品 是 不 screened 在 高 和 低 temperatures, 这 规格 for 这个 温度 范围
是 有保证的 用 设计, 不 测试 在 生产.