DS1020
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达拉斯市 半导体 测试 电路
图示 4
测试 建制 描述
图示 4 illustrates 这 硬件 配置 使用 为 测量 这 定时 参数 的 这 ds1020.
这 输入 波形 是 生产 用 一个 精确 脉冲波 发生器 下面 软件 控制. 时间 延迟 是
量过的 用 一个 时间 间隔 计数器 (20 ps 决议) 连接 至 这 输出. 这 ds1020 串行 和
并行的 端口 是 控制 用 接口 至 一个 central 计算机. 所有 度量 是 全部地 automated
和 各自 器械 控制 用 这 计算机 在 一个 ieee 488 总线.
测试 情况
输入:
包围的 温度: 25
°
C
±
=
3
°
C
供应 电压 (v
CC
): 5.0v
±
=
0.1v
输入 脉冲波: 高 = 3.0v
±
=
0.1v
低 = 0.0v
±
=
0.1v
源 阻抗: 50 ohms 最大值
上升 和 下降 时间: 3.0 ns 最大值
(量过的 在
0.6v 和 2.4v)
脉冲波 宽度: 500 ns (ds1020–15)
500 ns (ds1020–25)
2
µ
s (ds1020–50)
4
µ
s (ds1020–100)
4
µ
s (ds1020–200)
时期: 1
µ
s (ds1020–15)
1
µ
s (ds1020–25)
4
µ
s (ds1020–50)
8
µ
s (ds1020–100)
8
µ
s (ds1020–200)
便条: 在之上 情况 是 为 测试 仅有的 和 做 不 restrict 这 运作 的 这 设备 下面 其它 数据
薄板 情况.
输出:
输出 是 承载 和 一个 74f04. 延迟 是 量过的 在 这 1.5v 水平的 的 这 rising 边缘 的 这 输入
信号 和 这 1.5v 水平的 的 这 相应的 边缘 的 这 输出.
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