CAT24FC02
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doc. 非. 1072, rev. g
© 2005 用 catalyst 半导体, 公司
特性 主题 至 改变 没有 注意
电容
T
一个
= 25
°
c, f = 400 khz, v
CC
= 5 v
标识 测试 情况 最小值 典型值 最大值 单位
C
i/o
(3)
输入/输出 电容 (sda) V
i/o
= 0 v 8 pF
C
在
(3)
输入 电容 (其它 管脚) V
在
= 0 v 6 pF
可靠性 特性
(3)
标识 参数 最小值 典型值 最大值 单位
N
终止
忍耐力 1,000,000 循环/字节
T
DR
数据 保持 100 年
V
ZAP
静电释放 susceptibility 4000 伏特
I
LTH
(4)
获得-向上 100 毫安
绝对 最大 ratings*
温度 下面 偏差
–
55
°
c 至 +125
°
C
存储 温度 .......................
–
65
°
c 至 +150
°
C
电压 在 任何 管脚 和
遵守 至 地面
(1)
............
–
2.0 v 至 v
CC
+ 2.0 v
V
CC
和 遵守 至 地面 .............
–
2.0 v 至 +7.0 v
包装 电源 消耗
能力 (t
一个
= 25
°
c) .................................. 1.0 w
便条:
(1) 这 最小 直流 输入 电压 是
–
0.5 v. 在 transitions, 输入 将 undershoot 至
–
2.0 v 为 时期 的 较少 比 20 ns. 最大 直流
电压 在 输出 管脚 是 v
CC
+ 0.5 v, 这个 将 越过 至 v
CC
+ 2.0 v 为 时期 的 较少 比 20 ns.
(2) 输出 短接 为 非 更多 比 一个 第二. 非 更多 比 一个 输出 短接 在 一个 时间.
(3) 这些 参数 是 测试 initially 和 之后 一个 设计 或者 处理 改变 那 affects 这 参数 符合 至 适合的 aec-q100
和 电子元件工业联合会 测试 方法.
(4) 获得-向上 保护 是 提供 为 压力 向上 至 100 毫安 在 地址 和 数据 管脚 从
–
1.0 v 至 v
CC
+ 1.0 v.
(5) 最大 备用物品 电流 (i
SB
) = 10
µ
一个 为 这 扩展 automotive 温度 范围.
d.c. 运行 特性
V
CC
= 2.5 v 至 5.5 v, 除非 否则 指定.
标识 参数 测试 情况 最小值 典型值 最大值 单位
I
CC
电源 供应 电流 (读) f
SCL
= 400 khz 1 毫安
I
CC
电源 供应 电流 (写) f
SCL
= 400 khz 3 毫安
I
SB
(5)
备用物品 电流 (v
CC
= 5.0 v) V
在
= 地 或者 v
CC
1
µ
一个
I
LI
输入 泄漏 电流 V
在
= 地 至 v
CC
1
µ
一个
I
LO
输出 泄漏 电流 V
输出
= 地 至 v
CC
1
µ
一个
V
IL
输入 低 电压
–
1V
CC
x 0.3 V
V
IH
输入 高 电压 V
CC
x 0.7 V
CC
+ 1.0 V
V
OL
输出 低 电压 (v
CC
= 3.0 v) I
OL
= 3 毫安 0.4 V
含铅的 焊接 温度 (10 秒) ...... 300
°
C
输出 短的 电路 电流
(2)
....................... 100 毫安
*COMMENT
压力 在之上 那些 列表 下面
“
绝对 最大 比率
”
将
导致 永久的 损坏 至 这 设备. 这些 是 压力 比率 仅有的,
和 函数的 运作 的 这 设备 在 这些 或者 任何 其它 情况
外部 的 那些 列表 在 这 运算的 sections 的 这个 规格 是 不
暗指. 暴露 至 任何 绝对 最大 比率 为 扩展 时期
将 影响 设备 效能 和 可靠性.
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