km29u128t, km29u128it flash 记忆
7
模式 选择
便条
: 1. x 能 是 vIL或者 vih.
2.WP应当 是 片面的 至 cmos 高 或者 cmos 低 为 备用物品.
3. 当SE是 高, spare 范围 是 deselected.
CLE ALE CE 我们 RE SE WP 模式
H L L H X X
读 模式
command 输入
L H L H X X 地址 输入(3clock)
H L L H X H
写 模式
command 输入
L H L H X H 地址 输入(3clock)
L L L H
l/h
(3)
H 数据 输入
L L L H
l/h
(3)
X sequential 读 &放大; 数据 输出
L L L H H
l/h
(3)
X 在 读(busy)
X X X X X
l/h
(3)
H 在 程序(busy)
X X X X X X H 在 擦掉(busy)
X
X
(1)
X X X X L 写 保护
X X H X X
0v/vCC
(2)
0v/vCC
(2)
保卫-用
电容
(T一个=25
°
c, vCC=3.3v, f=1.0mhz)
便条
: 电容 是 periodically 抽样 和 不 100% 测试.
Item 标识 测试 情况 最小值 最大值 单位
输入/输出 电容 Ci/o VIL=0V - 10 pF
输入 电容 C在 V在=0V - 10 pF
有效的 块
便条
:
1. 这 km29u128 将 包含 invalid blocks. invalid blocks 是 定义 作 blocks 那 包含 一个 或者 更多 bad 位. 做 不 尝试 to 进入 这些 invalid
blocks 为 程序 和 擦掉. 在 它的 存在期 的 10 年 和/或者 1million 程序/擦掉 循环,这 最小 号码 的 有效的 blocks 是 guaran-
teed though 它的 最初的 号码 可以 是 减少. (谈及 至 这 连结 技术的 注释)
2. 这 1st 块, 这个 是 放置 在 00h 块 地址, 是 有保证的 至 是 一个 有效的 块
参数 标识 最小值 典型值 最大值 单位
有效的 块 号码 NVB 1004 - 1024 Blocks
交流 测试 情况
(km29u128t:t一个=0 至 70
°
c, km29u128it:t一个=-40 至 85
°
C,VCC=2.7v~3.6v 除非 否则 指出)
参数 值
输入 脉冲波 水平 0.4v 至 2.4v
输入 上升 和 下降 时间
5ns
输入 和 输出 定时 水平 1.5v
输出 加载 (3.0v +/-10%) 1 ttl 门 和 cl=50pf
输出 加载 (3.3v +/-10%) 1 ttl 门 和 cl=100pf
程序/擦掉 特性
参数 标识 最小值 典型值 最大值 单位
程序 时间 tPROG - 200 500
µ
s
号码 的 partial 程序 循环
在 这 一样 页
主要的 排列
Nop
- - 2 循环
spare 排列 - - 3 循环
块 擦掉 时间 tBERS - 2 3 ms