ADG736BRM_集成电路资料查询网

ADG736
–7–rev. 0
0.1

F
V
S
在
S
D
V
DD
地
R
L
300

C
L
35pF
V
输出
V
DD
V
在
V
输出
t
在
t
止
90%
90%
50% 50%
V
S
测试 电路 4. 切换 时间
SA
0.1

F
V
DD
V
S
地
V
输出
R
L
300

C
L
35pF
SB
V
在
D
V
DD
t
D
t
D
50%
50%
V
在
V
输出
90%
0V
0V
50%
50%
V
S
测试 电路 5. 破裂-在之前-制造 时间 延迟, t
D
I
DS
V1
SD
V
S
R
在
= v1/i
DS
测试 电路 1. 在 阻抗
V
D
I
S
(止)
SD
V
S
一个
测试 电路 2. 止 泄漏
I
D
(在)
SD
一个
V
D
V
S
测试 电路 3. 在 泄漏
测试 电路
SB
D
0.1

F
V
DD
在
V
S
地
R
L
50

V
输出
V
在
V
DD
SA
测试 电路 6. 止 分开
SD
0.1

F
V
DD
在
V
S
地
R
L
50

V
输出
V
在
V
DD
测试 电路 8. 带宽
SD
0.1

F
V
DD
V
S
地
50

V
输出
V
IN1
V
IN2
S
D
R
L
50

NC
频道-至-频道 串扰 = 20

LOG
|
V
S
/v
输出
|
V
DD
测试 电路 7. 频道-至-频道 串扰

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ADG736 –7–rev. 0 0.1  F V S 在 S D V DD 地 R L 300  C L 35pF V 输出 V DD V 在 V 输出 t 在 t 止 90% 90% 50% 50% V S 测试电路 4. 切换时间 SA 0.1  F V DD V S 地 V 输出 R L 300  C L 35pF SB V 在 D V DD t D t D 50% 50% V 在 V 输出 90% 0V 0V 50% 50% V S 测试电路 5. 破裂-在之前-制造时间延迟, t D I DS V1 SD V S R 在 = v1/i DS 测试电路 1. 在阻抗 V D I S (止) SD V S 一个测试电路 2. 止泄漏 I D (在) SD 一个 V D V S 测试电路 3. 在泄漏测试电路 SB D 0.1  F V DD 在 V S 地 R L 50  V 输出 V 在 V DD SA 测试电路 6. 止分开 SD 0.1  F V DD 在 V S 地 R L 50  V 输出 V 在 V DD 测试电路 8. 带宽 SD 0.1  F V DD V S 地 50  V 输出 V IN1 V IN2 S D R L 50  NC 频道-至-频道串扰 = 20  LOG \| V S /v 输出 \| V DD 测试电路 7. 频道-至-频道串扰

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