6.42
idt70v261s/l
高-速 16k x 16 双-端口 静态的 内存 和 中断 工业的 和 商业的 温度范围
7
注释:
1. 转变 是 量过的 0mv 从 低- 或者 高-阻抗 电压 和 输出 测试 加载 (图示 2).
2. 这个 参数 是 有保证的 用 设备 描绘, 但是 是 不 生产 测试.
3. 至 进入 内存,
CE
= v
IL
和
SEM
= v
IH
. 至 进入 semaphore,
CE
= v
IH
和
SEM
= v
IL
. 也 情况 必须 是 有效的 为 这 全部 t
EW
时间.
4. 这 规格 为 t
DH
必须 是 符合 用 这 设备 供应 写 数据 至 这 内存 下面 所有 运行 情况. 虽然 t
DH
和 t
OW
值 将 相异 在 电压 和
温度, 这 真实的 t
DH
将 总是 是 小 比 这 真实的 t
OW
.
5. 'x' 在 部分 号码 indicates 电源 比率 (s 或者 l).
注释:
1. 定时 取决于 在 这个 信号 是 asserted last,
OE
,
CE
,
LB
, 或者
UB
.
2. 定时 取决于 在 这个 信号 是 de-asserted 第一
CE
,
OE
,
LB
, 或者
UB
.
3. t
BDD
延迟 是 必需的 仅有的 在 具体情况 在哪里 这 opposite 端口 是 完成 一个 写 运作 至 这 一样 地址 location. 为 同时发生的 读 行动
BUSY
有 非
relation 至 有效的 输出 数据.
4. 开始 的 有效的 数据 取决于 在 这个 定时 变为 有效的 last t
AOE
, t
ACE
, t
AA
或者 t
BDD
.
5.
SEM
= v
IH
.
t
RC
r/
W
CE
地址
t
AA
OE
UB
,
LB
3040 drw 0
(4)
t
ACE
(4)
t
AOE
(4)
t
ABE
(4)
(1)
t
LZ
t
OH
(2)
t
HZ
(3,4)
t
BDD
数据
输出
BUSY
输出
有效的 数据
(4)
标识 Parameter
70V261X25
Com'l
&放大; ind
70V261X35
com'l 仅有的
70V261X55
com'l 仅有的
单位最小值 最大值 最小值 最大值 最小值 最大值
WRITE CYCLE
t
WC
写 循环 时间 25
____
35
____
55
____
ns
t
EW
碎片 使能 至 终止-的-写
(3)
20
____
30
____
45
____
ns
t
AW
地址 有效的 至 终止-的-写 20
____
30
____
45
____
ns
t
作
地址 设置-向上 时间
(3)
0
____
0
____
0
____
ns
t
WP
WriteP ulseWid th 20
____
25
____
40
____
ns
t
WR
写 恢复 时间 0
____
0
____
0
____
ns
t
DW
数据 有效的 至 终止-的-写 15
____
20
____
30
____
ns
t
HZ
输出 高-z 时间
(1,2)
____
15
____
20
____
25 ns
t
DH
数据 hold 时间
(4)
0
____
0
____
0
____
ns
t
WZ
写Enable至Outp ut在High-z
(1,2)
____
15
____
20
____
25 ns
t
OW
Outp ut 一个 c tiv e fro m E nd -o f-w rite
(1, 2,4)
0
____
0
____
0
____
ns
t
SWRD
SEM
标记 Write 至Read时间
5
____
5
____
5
____
ns
t
SPS
SEM
标记 contention window
5
____
5
____
5
____
ns
3040 tbl 1 2