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详细地 描述
这 isl84684 是 一个 双向的, 双 单独的 柱子/翻倍
throw (spdt) 相似物 转变 那 提供 准确的 切换
能力 从 一个 单独的 1.65v 至 3.6v 供应 和 低 在-
阻抗 (0.29
Ω
) 和 高 速 运作 (t
在
= 14ns,
t
止
= 6ns). 这 设备 是 特别 好 suited 为 可携带的
电池 powered 设备 预定的 至 它的 低 运行 供应
电压 (1.65v), 低 电源 消耗量 (2.7
µ
w 最大值), 低
泄漏 电流 (60na 最大值), 和 这 tiny 薄的 dfn 和
msop 包装. 这 过激低 在-阻抗 和 ron
flatness 提供 非常 低 嵌入 丧失 和 扭曲量 至
产品 那 需要 信号 再版.
供应 sequencing 和 超（电）压 保护
和 任何 cmos 设备, 恰当的 电源 供应 sequencing 是
必需的 至 保护 这 设备 从 过度的 输入 电流
这个 might permanently 损坏 这 ic. 所有 i/o 管脚 包含
静电释放 保护 二极管 从 这 管脚 至 v+ 和 至 地 (看
图示 8). 至 阻止 向前 偏置 这些 二极管, v+ 必须
是 应用 在之前 任何 输入 信号, 和 这 输入 信号
电压 必须 仍然是 在 v+ 和 地. 如果 这些
情况 不能 是 guaranteed, 然后 一个 的 这 下列的
二 保护 方法 应当 是 运用.
逻辑 输入 能 容易地 是 保护 用 adding 一个 1k
Ω
电阻 在 序列 和 这 输入 (看 图示 8). 这 电阻
限制 这 输入 电流 在下 这 门槛 那 生产
永久的 损坏, 和 这 sub-microamp 输入 电流
生产 一个 微不足道的 电压 漏出 在 正常的
运作.
图示 4. 止 分开 测试 电路 图示 5. R
在
测试 电路
图示 6. 串扰 测试 电路 图示 7. 电容 测试 电路
测试 电路 和 波形
(持续)
分析器
R
L
信号
发生器
V+
C
0v 或者 v+
非 或者 nc
COM
在
地
信号 方向 通过 转变 是 使反转, worst 情况 值
是 recorded. repeat 测试 为 所有 switches.
V+
C
V
INL
或者 v
INH
非 或者 nc
COM
在
地
V
NX
V
1
R
在
= v
1
/100ma
100mA
repeat 测试 为 所有 switches.
0v 或者 v+
分析器
V+
C
非 或者 nc
信号
发生器
R
L
地
在
1
COM
50
Ω
n.c.
COM
nc 或者 非
信号 方向 通过 转变 是 使反转, worst 情况 值
是 recorded. repeat 测试 为 所有 switches.
V+
C
地
非 或者 nc
COM
在
阻抗
分析器
V
INL
或者 v
INH
repeat 测试 为 所有 switches.
ISL84684
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