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数据 薄板
1 megabit 串行 flash
SST45LF010
7
©2001 硅 存储 技术, 公司 s71128-03-000 4/01 372
图示 2: 交流 i
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. 度量 涉及 点
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它
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). 输入 上升 和 下降 时间 (10%
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90%) 是 <5 ns.
便条:
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V
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至 tester
至 dut
C
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数据薄板 1 megabit 串行 flash SST45LF010 7 ©2001 硅存储技术, 公司 s71128-03-000 4/01 372 图示 2: 交流 i NPUT /o UTPUT R EFERENCE W AVEFORMS 图示 3: 一个 t EST L OAD E XAMPLE 372 ill f02.2 涉及点 OUTPUTINPUT V 它 V IHT V ILT V OT 交流测试输入是驱动在 v IHT (0.9 v DD ) 为一个逻辑 “ 1 ” 和 v ILT (0.1 v DD ) 为一个逻辑 “ 0 ” . 度量涉及点为输入和输出是 v 它 (0.5 v DD ) 和 v OT (0.5 v DD ). 输入上升和下降时间 (10% ↔ 90%) 是 <5 ns. 便条: V 它 - v 输入 Tes t V OT - v 输出 Te s t V IHT - v 输入高测试 V ILT - v 输入低测试 372 ill f03.2 至 tester 至 dut C L

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