rev. 0
–2–
adg619/adg620–specifications
b 版本
–40
c 至
参数 +25
C +85
C 单位 测试 情况/comments
相似物 转变
相似物 信号 范围 V
SS
至 v
DD
VV
DD
= +4.5 v, v
SS
= –4.5 v
在 阻抗 (r
在
)4
Ω
典型值 V
S
=
±
4.5 v, i
S
= –10 毫安,
68
Ω
最大值 测试 电路 1
在 阻抗 相一致 在
途径 (
∆
R
在
) 0.7
Ω
典型值 V
S
=
±
4.5 v, i
S
= –10 毫安
1.1 1.35
Ω
最大值
在-阻抗 flatness (r
flat(在)
) 0.7 0.8
Ω
典型值 V
S
=
±
3.3 v, i
S
= –10 毫安
1.2
Ω
最大值
泄漏 电流 V
DD
= +5.5 v, v
SS
= –5.5 v
源 止 泄漏 i
S
(止)
±
0.01 na 典型值 V
S
=
±
4.5 v, v
D
=
4.5 v,
±
0.25
±
1 na 最大值 测试 电路 2
频道 在 泄漏 i
D
, i
S
(在)
±
0.01 na 典型值 V
S
= v
D
=
±
4.5 v, 测试 电路 3
±
0.25
±
1 na 最大值
数字的 输入
输入 高 电压, v
INH
2.4 v 最小值
输入 低 电压, v
INL
0.8 v 最大值
输入 电流
I
INL
或者 i
INH
0.005
µ
一个 典型值 V
在
= v
INL
或者 v
INH
±
0.1
µ
一个 最大值
C
在
, 数字的 输入 电容 2 pf 典型值
动态 特性
2
ADG619
t
在
80 ns 典型值 R
L
= 300
Ω
, c
L
= 35 pf
120 155 ns 最大值 V
S
= 3.3 v, 测试 电路 4
t
止
45 ns 典型值 R
L
= 300
Ω
, c
L
= 35 pf
75 90 ns 最大值 V
S
= 3.3 v, 测试 电路 4
破裂-在之前-制造 时间 延迟, t
BBM
40 ns 典型值 R
L
= 300
Ω
, c
L
= 35 pf
10 ns 最小值 V
S1
= v
S2
= 3.3 v, 测试 电路 5
ADG620
t
在
40 ns 典型值 R
L
= 300
Ω
, c
L
= 35 pf
65 85 ns 最大值 V
S
= 3.3 v, 测试 电路 4
t
止
200 ns 典型值 R
L
= 300
Ω
, c
L
= 35 pf
330 400 ns 最大值 V
S
= 3.3 v, 测试 电路 4
制造-在之前-破裂 时间 延迟, t
MBB
160 ns 典型值 R
L
= 300
Ω
, c
L
= 35 pf
10 ns 最小值 V
S
= 0 v, 测试 电路 6
承担 injection 110 pc 典型值 V
S
= 0 v, r
S
= 0
Ω,
C
L
= 1 nf,
测试 电路 7
止 分开 –67 db 典型值 R
L
= 50
Ω
, c
L
= 5 pf, f = 1 mhz,
测试 电路 8
频道-至-频道 串扰 –67 db 典型值 R
L
= 50
Ω
, c
L
= 5 pf, f = 1 mhz,
测试 电路 10
带宽 –3 db 190 mhz 典型值 R
L
= 50
Ω
, c
L
= 5 pf, 测试 电路 9
C
S
(止) 25 pf 典型值 f = 1 mhz
C
d,
C
S
(在) 95 pf 典型值 f = 1 mhz
电源 (所需的)东西 V
DD
= +5.5 v, v
SS
= –5.5 v
I
DD
0.001
µ
一个 典型值 数字的 输入 = 0 v 或者 5.5 v
1.0
µ
一个 最大值
I
SS
0.001
µ
一个 典型值 数字的 输入 = 0 v 或者 5.5 v
1.0
µ
一个 最大值
注释
1
温度 范围 是 作 跟随: b 版本, –40
°
c 至 +85
°
c.
2
有保证的 用 设计, 不 主题 至 生产 测试.
规格 主题 至 改变 没有 注意.
双 供应
1
(v
DD
= +5 v
10%, v
SS
= –5 v
10%, 地 = 0 v. 所有 规格 –40
c 至 +85
c 除非 否则 指出.)